[发明专利]一种设备性能测试方法及装置有效
| 申请号： | 201410300186.2 | 申请日： | 2014-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN104022921B | 公开（公告）日： | 2019-01-08 |
| 发明（设计）人： | 王颢 | 申请（专利权）人： | 北京安兔兔科技有限公司 |
| 主分类号： | H04L12/26 | 分类号： | H04L12/26;H04L12/18;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 马敬;项京 |
| 地址： | 100041 北京市石景山区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种设备性能测试方法及装置，接收用户的批量性能测试指示，控制待测试设备运行预先安装在所述待测试设备本地的性能测试程序对所述待测试设备的性能进行测试。应用本发明实施例，无需测试员手动运行每台待测设备上的性能测试程序，也无需增加测试员，一名测试员即可以完成多台设备性能的测试，在不增加人力资源成本的情况下，减少了设备测试时间，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 设备 性能 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种设备性能测试方法，应用于控制设备，其特征在于，包括：接收用户的批量性能测试指示；根据所述批量性能测试指示，控制N台待测试设备运行预先安装在所述待测试设备本地的性能测试程序对所述待测试设备的性能进行测试，其中，N≥1，所述控制设备为N台待测试设备中的任意一台；所述批量性能测试指示中的性能测试具体为：对所述待测设备的CPU整数运算性能、CPU浮点运算性能、RAM速度性能、RAM运算性能、GPU的2D绘图性能、GPU的3D绘图性能、数据库I/O性能、存储器I/O性能，进行的测试。
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