[发明专利]衍射成像有效
| 申请号： | 201410299083.9 | 申请日： | 2014-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN104251870B | 公开（公告）日： | 2019-03-08 |
| 发明（设计）人： | D·贝克尔斯;M·歌特斯凯 | 申请（专利权）人： | 马尔文帕纳科公司 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 杜文树 |
| 地址： | 荷兰阿*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及衍射成像。一种对不均匀多晶样本中的相进行成像的方法，该不均匀多晶样本具有至少第一结晶成分的多个微晶，该方法包括在基本单色X射线以布拉格‑布伦塔诺仲聚焦几何、以第一角θ1入射到样本的表面的情况下，照射跨样本的表面延伸的被照射区域。由样本以第二角θ2衍射的X射线穿过针孔装置。衍射角θ1+θ2满足第一结晶成分的布拉格条件，第一结晶成分由探测器成像，以提供在样本的表面处的第一结晶成分的二维图像。 | ||
| 搜索关键词： | 衍射 成像 | ||
【主权项】：
1.一种对不均匀多晶样本进行成像的方法，该不均匀多晶样本具有至少第一结晶成分的多个微晶，该方法包括：用来自入射束焦点的基本单色X射线照射跨样本的表面延伸的被照射区域，该基本单色X射线以第一角θ1入射到样本的表面；使得由样本以第二角θ2衍射的X射线穿过针孔装置，其中衍射角θ1+θ2满足第一结晶成分的布拉格条件，并且针孔装置位于由仲聚焦条件确定的位置，X射线穿过针孔装置并且到达与针孔装置间隔开的探测器，以提供在样本的表面处的第一结晶成分的二维图像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于马尔文帕纳科公司，未经马尔文帕纳科公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410299083.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
