[发明专利]受应力的场效晶体管的制造方法在审
申请号: | 201410298755.4 | 申请日: | 2007-09-24 |
公开(公告)号: | CN104051276A | 公开(公告)日: | 2014-09-17 |
发明(设计)人: | A·M·魏特;S·卢宁 | 申请(专利权)人: | 格罗方德半导体公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人: | 程伟;王锦阳 |
地址: | 英属开曼群*** | 国省代码: | 开曼群岛;KY |
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摘要: | 本发明提供一种受应力的场效晶体管的制造方法。该场效晶体管(40)包括硅衬底(44),在该硅衬底上覆有栅极绝缘体(54)。栅极电极(62)覆于该栅极绝缘体上,并且确定信道区域(68)于该栅极电极的下方的该硅衬底中。具有第一厚度的第一硅锗区域(76)嵌入该硅衬底中,并接触该信道区域。具有第二厚度的第二硅锗区域(82)也嵌入该硅衬底中,该第二厚度大于该第一厚度,并且该第二硅锗区域与该信道区域分隔开。 | ||
搜索关键词: | 应力 晶体管 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种用于制造受应力的场效晶体管(40)的方法,该受应力的场效晶体管包含单晶硅衬底(44),该方法包括下列步骤:沉积与图案化覆于该硅衬底上的多晶硅层(58),以形成栅极电极(62),该栅极电极确定位于该硅衬底中该栅极电极下方的信道区域(68);沉积第一层的间隔件形成材料(70)覆于该栅极电极上;非等向性蚀刻该第一层以于该栅极电极上形成第一侧壁间隔件(72);使用该栅极电极与该侧壁间隔件作为蚀刻掩膜来蚀刻第一凹槽(74)至该硅衬底中;在该第一凹槽中外延生长具有第一厚度的未掺杂的嵌入硅锗层(76)且接触该信道区域;在该第一侧壁间隔件上形成第二侧壁间隔件(78);使用该栅极电极与该第二侧壁间隔件作为蚀刻掩膜来蚀刻第二凹槽(80)至该硅衬底中;在该第二凹槽中外延生长具有第二厚度的原位掺杂的嵌入硅锗层(82)且与该信道区域分隔开,该第二厚度大于该第一厚度;移除该第一侧壁间隔件(72)及该第二侧壁间隔件(78);在该栅极电极上形成第三侧壁间隔件(86);在该受应力的场效晶体管的表面上沉积硅化物形成金属(94);以及形成电性接触件(96、97、98)至该栅极电极及至该第二嵌入硅锗层。
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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