[发明专利]内嵌微机电传感器的神经元模式位移或变形监测方法有效

专利信息
申请号: 201410286345.8 申请日: 2014-06-24
公开(公告)号: CN104101325B 公开(公告)日: 2017-02-08
发明(设计)人: 李方元 申请(专利权)人: 同济大学
主分类号: G01B21/32 分类号: G01B21/32;G01B21/02
代理公司: 上海天协和诚知识产权代理事务所31216 代理人: 叶凤
地址: 200092 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种位移测试方法,适用于长线范围或空间范围尺度的结构物的静态和动态位移测量。一种内嵌微机电传感器的神经元模式位移或变形监测方法,其特征在于,利用多点神经元结构模式,以传感器作为一个神经元主体,辅以刚性杆件作为神经元的髓鞘连接组成一个神经元基本单元组件;将多个神经元组件串联后形成神经链,以起始节点为基准,获得各单元间的相对位移来确定附着的结构变形。相对于现有技术,本发明的结构变形和动力特性测量方法能克服传统机械式的临时测试和光学测试方法环境影响和高成本价格的局限,尤其适合于大范围或长尺度多点的长期监测,例如用于建筑、桥梁、隧道、大坝和边坡等结构的纵、横向变形测量与实时监测。
搜索关键词: 微机 传感器 神经元 模式 位移 变形 监测 方法
【主权项】:
一种内嵌微机电传感器的神经元模式位移或变形监测方法,其特征在于,利用多点神经元结构模式,以传感器作为一个神经元主体,辅以刚性杆件作为神经元的髓鞘连接组成一个神经元基本单元组件;将多个神经元组件串联后形成神经链,通过不同单元组交叉后形成网格状,最终组建神经元链状的网格结构,以起始节点为基准,获得各单元间的相对位移来确定附着的结构变形,实现空间形状表面上各点位移变形测量。
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