[发明专利]一种高分辨率扫描合成孔径雷达自聚焦处理方法和装置在审
| 申请号： | 201410271270.6 | 申请日： | 2014-06-17 |
| 公开（公告）号： | CN104049254A | 公开（公告）日： | 2014-09-17 |
| 发明（设计）人： | 李宁;王宇;邓云凯;张志敏;龚小冬;刘亚波 | 申请（专利权）人： | 中国科学院电子学研究所 |
| 主分类号： | G01S13/90 | 分类号： | G01S13/90;G01S7/02 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 张颖玲;王黎延 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高分辨率扫描合成孔径雷达自聚焦处理方法，所述方法包括：对扫描合成孔径雷达每个子测绘带的ScanSAR数据进行子孔径划分；分别对每个子孔径进行相位误差估计；将获得的每个子孔径的相位误差进行相位误差拼接，获得子测绘带全孔径相位误差；对每个子测绘带的ScanSAR数据进行全孔径相位误差校正和方位向压缩。本发明同时还公开了一种高分辨率扫描合成孔径雷达自聚焦装置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高分辨率 扫描 合成孔径雷达 自聚焦 处理 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种高分辨率扫描合成孔径雷达自聚焦处理方法，其特征在于，所述方法包括：对每个子测绘带的ScanSAR数据进行子孔径划分；分别对每个子孔径进行相位误差估计；将获得的每个子孔径的相位误差进行相位误差拼接，获得子测绘带全孔径相位误差；对每个子测绘带的ScanSAR数据进行全孔径相位误差校正和方位向压缩。
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