[发明专利]一种光学电子式互感器分离单元一体化延时测试系统

摘要

本发明公开了一种光学电子式互感器分离单元一体化延时测试系统，包括依次连接的标准互感器、I/U变换器、A/D采集电路、CPU、上位机，所述CPU还连接有基于FPGA的数字量采集模块，所述基于FPGA的数字量采集模块的窜行数据接口外接采集器，以太网数据接口外接合并单元。本发明集成常规光学电子式互感器校验仪的所有功能，增加过程测试，将光学电子式互感器的分离时间特性测试纳入到测试系统当中，能够精确测试光学电子式互感器各分离单元的延时时间，为智能变电站的现场光学电子式互感器的分离单元测试提供检测依据。

主权项

一种光学电子式互感器分离单元一体化延时测试系统，其特征在于：包括依次连接的标准互感器、I/U变换器、A/D采集电路、CPU、上位机，所述CPU还连接有基于FPGA的数字量采集模块，所述基于FPGA的数字量采集模块的串行数据接口外接采集器，以太网数据接口外接合并单元；所述标准互感器设置在套有光纤环的一次侧导线上，作为标准信号源；所述A/D采集电路以标准信号为基准实现模拟量数据采集，并将模拟量数据发送给内含恒温晶振的CPU；所述基于FPGA的数字量采集模块用以采集采集器输出的串行数据以及合并单元输出的以太网数据，并将串行数据和以太网数据发送给内含恒温晶振的CPU；所述CPU接收模拟量数据、串行数据和以太网数据，并计算出各自的基波相位角，利用基波相位角之间的关系计算出模拟量与光学电子式互感器本体之间的延时、模拟量与合并单元之间的延时，并根据采集器与合并单元标定的额定延时值分别计算出t1、t2和t3，其中t1为光学电子式互感器物理延时，t2为采集器处理延时，t3为合并单元处理延时；所述上位机用以实现与CPU之间的数据交互。