[发明专利]基于数字微镜平面结构光照明的粒子场测量装置及测量方法有效

专利信息
申请号: 201410246861.8 申请日: 2014-06-05
公开(公告)号: CN104034636A 公开(公告)日: 2014-09-10
发明(设计)人: 单明广;钟志;董全;杨晓涛;马修真;刘友 申请(专利权)人: 哈尔滨工程大学
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区*** 国省代码: 黑龙江;23
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供的是一种基于数字微镜平面结构光照明的粒子场测量装置及测量方法。准直扩束后的平行光经DMD生成的数字一维周期光栅反射后,再依次经过第一柱面透镜、滤波器和第二柱面透镜生成平面结构光照射粒子场,再经粒子场散射和图像传感器采集获得成像图样;再经计算机控制同步控制器同步触发控制DMD和图像传感器,由DMD控制数字一维周期光栅产生相移依次为0、2π/3和4π/3,并由图像传感器依次采集获得三幅相移依次为0、2π/3和4π/3的图样,计算机将采集获得的干涉图样处理,获取待测物体的相位分布。本方法与装置具有响应速度快、相移稳定、使用方便等特点。
搜索关键词: 基于 数字 平面 结构 照明 粒子 测量 装置 测量方法
【主权项】:
一种基于数字微镜平面结构光照明的粒子场测量装置,包括光源、准直扩束系统,其特征是:它还包括全内反射棱镜、DMD、第一柱面透镜、滤波器、第二柱面透镜、粒子场、图像传感器、计算机和同步控制器,光源发出的光入射至准直扩束系统,经准直扩束系统准直扩束后的出射光入射至全内反射棱镜,经全内反射棱镜反射后由第一端面(A)出射,出射光入射至DMD,经DMD生成的数字一维周期光栅反射后产生多级衍射光,所述衍射光由第一端面(A)再次入射至全内反射棱镜,经全内反射棱镜透射后由第二端面(B)出射,出射光入射至第一柱面透镜,经第一柱面透镜会聚后的出射光入射至滤波器,经滤波器滤波后保留的±1级光入射至第二柱面透镜,经第二柱面透镜透射的±1级光产生重叠并相干生成平面结构光,该平面结构光入射至粒子场,经粒子场散射的光由图像传感器的光接收面接收,图像传感器的图像信号输出端连接计算机的图像信号输入端;DMD和图像传感器的触发输入端连接同步控制器触发输出端,同步控制器触发输入端连接计算机的控制输出端。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于哈尔滨工程大学,未经哈尔滨工程大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410246861.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top