[发明专利]一种提高钢丝绳芯输送带X光图像质量的方法有效

专利信息
申请号: 201410242428.7 申请日: 2014-05-27
公开(公告)号: CN103995011A 公开(公告)日: 2014-08-20
发明(设计)人: 苗长云;李现国;叶春青;仲为亮;高长成 申请(专利权)人: 天津工业大学;天津市恒一机电科技有限公司
主分类号: G01N23/18 分类号: G01N23/18;G06F19/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300387 *** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种提高钢丝绳芯输送带X光图像质量的方法,属于无损检测领域。解决基于X光线阵探测器的钢丝绳芯输送带X光图像中间亮两侧暗、有条状或孤立点噪声、有像元坏道等问题。本发明根据X光线阵探测器成像特性、待测钢丝绳芯输送带的规格和基于X光的钢丝绳芯输送带无损检测系统的结构特点,利用实验确定合适的X光射线源强度,通过计算得到X光线阵探测器每个像元的校正系数,最后采用1×3的中值滤波,得到处理后的结果。本发明可以快速、便捷地实现钢丝绳芯输送带X光图像的校正和滤波,大大提高了图像质量,在工业应用中具有良好的使用价值。
搜索关键词: 一种 提高 钢丝绳 输送带 图像 质量 方法
【主权项】:
一种提高钢丝绳芯输送带X光图像质量的方法,其特征在于,该方法包含如下步骤:步骤1,关闭X光射线源,获得无X光照射条件下的X光线阵探测器的输出值Ai,其中i表示X光线阵探测器的第i个像元;步骤2,利用X光线阵探测器,获得待测钢丝绳芯输送带X光图像;步骤3,根据待测钢丝绳芯输送带的宽度、厚度和钢丝绳芯直径,利用步骤2获得的待测钢丝绳芯输送带X光图像,确定一个X光射线源强度;步骤4,在X光线阵探测器和X光射线源之间水平放置一段和待测钢丝绳芯输送带相同材质、相同宽度和相同厚度的橡胶输送带,打开X光射线源,利用步骤3确定的X光射线源强度,获得此条件下X光线阵探测器的输出值Bi,其中i表示X光线阵探测器的第i个像元;步骤5,利用步骤1获得的Ai和步骤4获得的Bi,通过<mrow><msub><mi>G</mi><mi>i</mi></msub><mo>=</mo><mfenced open='{' close=''><mtable><mtr><mtd><mn>1</mn></mtd><mtd><msub><mi>B</mi><mi>i</mi></msub><mo>&le;</mo><msub><mi>A</mi><mi>i</mi></msub></mtd></mtr><mtr><mtd><mfrac><mrow><mn>255</mn><mo>&times;</mo><mn>80</mn><mo>%</mo></mrow><mrow><msub><mi>B</mi><mi>i</mi></msub><mo>-</mo><msub><mi>A</mi><mi>i</mi></msub></mrow></mfrac></mtd><mtd><msub><mi>B</mi><mi>i</mi></msub><mo>></mo><msub><mi>A</mi><mi>i</mi></msub></mtd></mtr></mtable></mfenced><mo>,</mo></mrow>得到每个像元的校正系数Gi,并把Gi存储起来以确保该参数值断电时不丢失,其中i表示X光线阵探测器的第i个像元;步骤6,在X光线阵探测器和X光射线源之间水平放置待测钢丝绳芯输送带,打开X光射线源,获得此状态下X光线阵探测器的输出值Ci,其中i表示X光线阵探测器的第i个像元;步骤7,利用步骤5得到的Gi和步骤6获得的Ci,通过<mrow><msub><mi>D</mi><mi>i</mi></msub><mo>=</mo><mfenced open='{' close=''><mtable><mtr><mtd><mn>0</mn></mtd><mtd><msub><mi>C</mi><mi>i</mi></msub><mo>&le;</mo><msub><mi>A</mi><mi>i</mi></msub></mtd></mtr><mtr><mtd><msub><mi>G</mi><mi>i</mi></msub><mo>&times;</mo><mrow><mo>(</mo><msub><mi>C</mi><mi>i</mi></msub><mo>-</mo><msub><mi>A</mi><mi>i</mi></msub><mo>)</mo></mrow></mtd><mtd><msub><mi>C</mi><mi>i</mi></msub><mo>></mo><msub><mi>A</mi><mi>i</mi></msub></mtd></mtr></mtable></mfenced><mo>,</mo></mrow>得到校正后的输出值Di,其中i表示X光线阵探测器的第i个像元;步骤8,对步骤7得到的Di进行1×3的中值滤波,得到滤波后的输出Ei,其中i表示X光线阵探测器的第i个像元。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津工业大学;天津市恒一机电科技有限公司,未经天津工业大学;天津市恒一机电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410242428.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top