[发明专利]一种测量磁性元件磁通量的方法及其装置在审
| 申请号： | 201410222322.0 | 申请日： | 2014-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN104020426A | 公开（公告）日： | 2014-09-03 |
| 发明（设计）人： | 黄可可;李正瑜;王西平 | 申请（专利权）人： | 宁波兴隆磁性技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12 |
| 代理公司： | 宁波奥圣专利代理事务所(普通合伙) 33226 | 代理人： | 方小惠 |
| 地址： | 315135 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量磁性元件磁通量的方法及其装置，通过将待测磁性元件放入亥姆霍兹线圈中，待测磁性元件的充磁方向沿亥姆霍茨线圈的轴向且待测磁性元件位于第一线圈和第二线圈正中间；将磁通计清零后采用翻转机构将待测磁性元件翻转180度后保持静止，读取磁通计的输出值，该输出值即为待测磁性元件的磁通量值，由此测得待测磁性元件的磁通量值；优点是在测量过程中，不需要划定亥姆霍兹线圈的磁场区域，通过翻转机构将磁性元件翻转180度即可测得磁通量，操作简单，劳动强度低，测试效率较高，翻转机构可使待测磁性元件的测试条件和位置相同，测试数据的可重复性和准确性较高，并且不受限于磁性元件的体积大小。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 磁性 元件 磁通量 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
一种测量磁性元件磁通量的方法，其特征在于包括以下步骤：①将亥姆霍兹线圈和磁通计连接，所述的亥姆霍兹线圈包括支撑座、同轴设置在所述的支撑座左右两端的第一线圈和第二线圈；②将待测磁性元件放入亥姆霍兹线圈中，待测磁性元件的充磁方向沿所述的亥姆霍茨线圈的轴向且待测磁性元件位于所述的第一线圈和所述的第二线圈正中间，待测磁性元件朝向所述的第一线圈的端面为第一端面，待测磁性元件朝向所述的第二线圈的端面为第二端面；③将磁通计清零；④采用翻转机构将待测磁性元件翻转180度后保持静止，此时，待测磁性元件的第一端面朝向所述的第二线圈，待测磁性元件的第二端面朝向第一线圈；⑤读取磁通计的输出值，该输出值即为待测磁性元件的磁通量值。
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