[发明专利]一种基于VID拨码开关硬件电路的内存可靠性测试方法在审
| 申请号： | 201410221537.0 | 申请日： | 2014-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN103970631A | 公开（公告）日： | 2014-08-06 |
| 发明（设计）人： | 于勤伟;王守昊 | 申请（专利权）人： | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 济南信达专利事务所有限公司 37100 | 代理人： | 姜明 |
| 地址： | 250014 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于VID拨码开关硬件电路的内存可靠性测试方法，属于内存可靠性测试领域，本发明主要是基于VID拨码开关硬件电路，在室温40度以上环境中，通过VID拨码开关使内存电压做+/-10%的电压拉偏，分别在+10%和-10%内存供电电压的情况下，运行内存压力测试、模拟在实际环境中应用对内存的读/写访问，使内存的占用率超过90%。各自连续运行48小时，测试考量内存在负压和高压的情况下，在高温、满使用负载的环境中，内存持续工作的稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 vid 开关 硬件 电路 内存 可靠性 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种基于VID拨码开关硬件电路的内存可靠性测试方法，其特征在于采用VID拨码开关电路与主板上内存VR控制器相连接，通过拨码开关中开关键的不同组合可以直接调整内存的供电电压，使内存的供电电压可以在1.2~1.6V之间调整；在室温40度以上环境中，通过VID拨码开关使内存电压做+/‑10%的电压拉偏，分别在+10%和‑10%内存供电电压的情况下，运行内存压力测试、模拟在实际环境中应用对内存的读/写访问，使内存的占用率超过90%；各自连续运行48小时，测试考量内存在负压和高压的情况下，在高温、满使用负载的环境中，内存持续工作的稳定性。
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