[发明专利]一种基于VID拨码开关硬件电路的内存可靠性测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及内存可靠性测试领域，具体地说是一种基于VID拨码开关硬件电路的内存可靠性测试方法。

背景技术

目前业界在内存可靠性测试中，多在高温环境中采用针对主机输入端电压进行拉偏，同时整个主机持续运行针对内存的读、写压力程序，来评测主机搭配内存的可靠性。而所有主板在设计时内存都有各自的VR电路，无论板子的输入电压在允许的范围内出现负压或高压的情况，VR电路都会调整已保证以一个相对稳定电压值给内存供电，因此目前的业界针对内存可靠性的测试方法存在局限性。

发明内容

本发明提供一种基于VID拨码开关硬件电路的内存可靠性测试方法，可以直接调整内存的供电电压，在高温、满负载的环境中，考量内存实际供电在负压和高压两种情况下，整系统运行的稳定性，以此来评估测试机台中搭配内存的可靠性。

本次测试方法主要是基于VID拨码开关硬件电路，因采用软/硬件结合的方式。

本发明的技术方案为：

一种基于VID拨码开关硬件电路的内存可靠性测试方法，测试硬件平台包括测试主机平台、预测试的内存条以及在测试主机上安装操作系统和测试软件。采用VID拨码开关电路与主板上内存VR控制器相连接，通过拨码开关中开关键的不同组合可以直接调整内存的供电电压，使内存的供电电压可以在1.2~1.6V之间调整；

在室温40度以上环境中，通过VID拨码开关使内存电压做+/-10%的电压拉偏，分别在+10%和-10%内存供电电压的情况下，运行内存压力测试、模拟在实际环境中应用对内存的读/写访问，使内存的占用率超过90%；

各自连续运行48小时，测试考量内存在负压和高压的情况下，在高温、满使用负载的环境中，内存持续工作的稳定性。

测试标准为：测试运行完成后，在系统中查看MCElog文件，文件记录中没有内存方面的报错提示，并且整个测试过程中测试机台稳定运行，没有出现死机、重启动或蓝屏等异常现象。

本发明的有益效果是：

因采用软/硬件结合的方式，首先打破了目前内存可靠性测试中只针对主机输入端电压拉偏测试方法的局限性，提出了一种针对内存可靠性测试的新方法；其次设计了基于VID拨码开关的硬件电路，可以在测试过程中随时并且很方便的调整内存的供电电压,提高了测试的效率；最后此种测试方法便于测试目前流行的RDIMM以及未来新技术的LRDIMM，具备很强的适用性，适合广泛的推广到多种类型的内存可靠性测试当中。

附图说明

附图1是 VID拨码开关方式的硬件电路图；

附图2是通过调节不同的VID配置可输出的电压范围在1.2-1.6V之间的示意图；

附图3是测试总体思路流程图。

具体实施方式

一、基于高速通信端口的多端口自动化双向通信质量测试方法

1、 准备好测试硬件平台（包括测试主机平台、预测试的内存条以及在测试主机上安装操作系统和测试软件）；

2、 将测试主机上VID拨码开关的VID0~VID6健位设置成“0101011”；

3、 主机放入高温测试箱中，将高温箱的温度设置为40℃,主机开机并运行Memory Test或Linpack测试程序，主机持续运行48小时；

4、 48小时测试运行完成后，在系统中查看MCElog文件，文件记录中没有内存方面的报错提示，并且整个测试过程中测试机台稳定运行，没有出现死机、重启动或蓝屏等异常现象；

5、 测试机台关机从高温测试箱中取出，将测试主机上VID拨码开关的VID0~VID6健位设置成“0010101”；

6、 主机放入高温测试箱中，将高温箱的温度设置为40℃,主机开机并运行Memory Test或Linpack测试程序，主机持续运行48小时；

7、 48小时测试运行完成后，在系统中查看MCElog文件，文件记录中没有内存方面的报错提示，并且整个测试过程中测试机台稳定运行，没有出现死机、重启动或蓝屏等异常现象；

二、测试标准

1、将测试主机上VID拨码开关的VID0~VID6健位设置成“0101011”，主机可以正常开机并进入系统，主机在40℃环境中持续运行48小时，测试运行完成后，在系统中查看MCElog文件，文件记录中没有内存方面的报错提示，并且整个测试过程中测试机台稳定运行，没有出现死机、重启动或蓝屏等异常现象；