[发明专利]高粘度光刻胶的涂布方法、光刻方法有效

专利信息
申请号: 201410215788.8 申请日: 2014-05-20
公开(公告)号: CN103977947A 公开(公告)日: 2014-08-13
发明(设计)人: 耿金鹏;付瑞鹏;童立峰 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: B05D5/00 分类号: B05D5/00;G03F7/20
代理公司: 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 代理人: 吴世华;林彦之
地址: 201210 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种高粘度光刻胶的涂布方法,通过在预润湿半导体衬底的表面之后,依次采用三个不同的旋转速度和不同的旋转时间来涂布光刻胶,首先,第一转速小于第二转速,而第一旋转时间大于第二旋转时间;其次,第三转速小于第一转速,而第三旋转时间大于第一旋转时间。由此,在向半导体衬底表面输送光刻胶之后,提高第一转速,并且在很短的时间内旋转半导体衬底,它的作用是均匀涂布光刻胶,避免产生‘风旋’缺陷。采用第二转速的过程中,半导体衬底中心位置的高粘度光刻胶向半导体衬底边缘转移,经过第二旋转时间后,降低转速至第三转速,从而使得形成的光刻胶层在半导体衬底的各个位置的厚度均相同,从而提高光刻工艺的精度和质量。
搜索关键词: 粘度 光刻 方法
【主权项】:
一种高粘度光刻胶的涂布方法,其特征在于,包括:提供一半导体衬底;旋转所述半导体衬底,对所述半导体衬底进行预润湿;在第一旋转时间内以第一转速旋转所述半导体衬底,并向所述半导体衬底上输送所述光刻胶;在第二旋转时间内以第二转速旋转所述半导体衬底;在第三旋转时间内以第三转速旋转所述半导体衬底,从而在所述半导体衬底上形成均匀的光刻胶层;其中,所述第三转速小于所述第一转速和所述第二转速;所述第二旋转时间小于所述第一旋转时间;所述第一旋转时间小于所述第三旋转时间。
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