[发明专利]一种锻件内部缺陷的超声波相控阵识别方法在审

专利信息
申请号: 201410212440.3 申请日: 2014-05-19
公开(公告)号: CN103954689A 公开(公告)日: 2014-07-30
发明(设计)人: 张利;陈昌华 申请(专利权)人: 南京迪威尔高端制造股份有限公司
主分类号: G01N29/06 分类号: G01N29/06
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 张学彪
地址: 210048 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种锻件内部缺陷的超声波相控阵识别方法可操作性强,几何形状描述更为准确,检测结果直观可靠,便于永久保存,这都为缺陷的定量、定性、定位的最终判定提供了有利的判定依据。利用超声波相控阵扫描可获得锻件的超声垂直成像,进而利用本发明的识别方法或得缺陷的具体形状和精确尺寸,这为锻件的安全评定,寿命评估和有限元应力计算等提供了准确的预测依据。
搜索关键词: 一种 锻件 内部 缺陷 超声波 相控阵 识别 方法
【主权项】:
一种锻件内部缺陷的超声波相控阵识别方法,其特征在于:利用超声波相控阵检测设备对锻件进行检测,得到超声波相控阵图像;当所述超声波相控阵图像中缺陷的X方向、Y方向和Z方向的宽度均小于λ时,所述缺陷为点状缺陷;当所述超声波相控阵图像中缺陷的X方向、Y方向和Z方向中一个方向的宽度大于3λ,另外两个方向的宽度均小于λ时,所述缺陷为线状缺陷;当所述超声波相控阵图像中缺陷的X方向、Y方向和Z方向中一个方向的宽度大于3λ,第二个方向的宽度为λ‑2λ,第三个方向的宽度均小于λ时,所述缺陷为条状缺陷;当所述超声波相控阵图像中缺陷的X方向和Z方向的宽度均大于3λ,Y方向的宽度小于λ时,所述缺陷为片状缺陷;当所述超声波相控阵图像中缺陷的X方向、Y方向和Z方向的宽度均为λ‑3λ时,所述缺陷为体积缺陷;当所述超声波相控阵图像中缺陷的X方向、Y方向和Z方向的宽度均不小于3λ时,所述缺陷为团重叠缺陷;当所述超声波相控阵图像中缺陷的数量为多个且缺陷的X方向、Y方向和Z方向的宽度均小于λ时,所述缺陷为多点小缺陷;在多点小缺陷中,点与点之间距离均不小于13mm时,所述缺陷为多点分散型小缺陷;在多点小缺陷中,点与点之间距离均小于13mm时,所述缺陷为多点密集型小缺陷;当所述超声波相控阵图像中缺陷的数量为多个且缺陷的X方向、Y方向和Z方向的宽度中一个方向的宽度为λ‑3λ,另外两个方向的宽度均小于λ时,所述缺陷为点状大缺陷;在点状大缺陷中,点与点之间距离均不小于13mm时,所述缺陷为多点分散型大缺陷;在点状大缺陷中,点与点之间距离均小于13mm时,所述缺陷为多点密集型大缺陷; 其中,超声波相控阵检测设备包括超声波探头,λ为超声波探头的波长,X方向、Y方向和Z方向为迪卡尔坐标的三维方向。
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