[发明专利]半导体器件及编程失败单元在审
| 申请号： | 201410208449.7 | 申请日： | 2014-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN104658606A | 公开（公告）日： | 2015-05-27 |
| 发明（设计）人： | 林仁根;李珉圭;安致昱 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/34 | 分类号： | G11C16/34 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 俞波;毋二省 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 半导体器件包括存储块，存储块包括被配置成形成偶数页面的偶数存储器单元和被配置成形成奇数页面的奇数存储器单元。半导体器件还包括操作电路，操作电路被配置成对偶数存储器单元和奇数存储器单元执行的编程操作。第一验证操作可以分别验证偶数存储器单元和奇数存储器单元，第二验证操作可以同时验证偶数存储器单元和奇数存储器单元。此外，操作电路被配置成响应于验证结果值而根据相邻编程失败单元的数目来选择性地执行第一验证操作和第二验证操作。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体器件 编程 失败 单元 | ||
【主权项】：
一种半导体器件，包括：存储块，包括被配置成形成偶数页面的偶数存储器单元和被配置成形成奇数页面的奇数存储器单元；以及操作电路，被配置成：对所述偶数存储器单元和所述奇数存储器单元执行编程操作、用于分别验证所述偶数存储器单元和所述奇数存储器单元的第一验证操作以及用于同时验证所述偶数存储器单元和所述奇数存储器单元的第二验证操作，其中，所述操作电路被配置成响应于验证结果值而根据相邻编程失败单元的数目来选择性地执行所述第一验证操作和所述第二验证操作。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于爱思开海力士有限公司;，未经爱思开海力士有限公司;许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410208449.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
