[发明专利]线性调频多光束激光外差二次谐波法测量磁致伸缩系数的装置及方法有效
| 申请号： | 201410206056.2 | 申请日： | 2014-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN103969607A | 公开（公告）日： | 2014-08-06 |
| 发明（设计）人： | 李彦超;甄佳奇;杨九如;冉玲苓;高扬;杨瑞海;杜军;丁群;王春晖;马立峰;于伟波 | 申请（专利权）人： | 黑龙江大学 |
| 主分类号： | G01R33/18 | 分类号： | G01R33/18 |
| 代理公司： | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人： | 张利明 |
| 地址： | 150080 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 线性调频多光束激光外差二次谐波法测量磁致伸缩系数的装置及方法，属于光学测量技术领域。本发明是为了解决在铁磁材料磁致伸缩系数的测量过程中，对铁磁材料长度变化量的测量精度低的问题。装置包括待测铁磁材料样品、线性调频激光器、第一平面反射镜、薄玻璃板、第二平面反射镜、会聚透镜、光电探测器、信号处理系统、两个固定棒和激励线圈，方法为使光电探测器开始接收光束信号，数字信号处理器连续采集光电探测器输出的光电流信号，并对采集到的差频信号进行处理，根据频率与距离之间的关系获得薄玻璃板与第二平面反射镜之间的当前距离，再根据磁致伸缩系数的公式，获得待测铁磁材料样品的磁致伸缩系数。本发明用于测量磁致伸缩系数。 | ||
| 搜索关键词： | 线性 调频 光束 激光 外差 二次 谐波 测量 伸缩 系数 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种线性调频多光束激光外差二次谐波法测量磁致伸缩系数的装置，它包括待测铁磁材料样品(1)，其特征在于，它还包括线性调频激光器(2)、第一平面反射镜(3)、薄玻璃板(4)、第二平面反射镜(5)、会聚透镜(6)、光电探测器(7)、信号处理系统(8)、两个固定棒(9)和激励线圈(10)，待测铁磁材料样品(1)的两端分别粘接一个固定棒(9)，一个固定棒(9)的自由端采用固定件固定，另一个固定棒(9)的自由端与第二平面反射镜(5)的背面粘接固定；待测铁磁材料样品(1)居中置于激励线圈(10)内；激励线圈(10)采用直流稳压电源供电，直流稳压电源采用滑线变阻器调节输出电流；线性调频激光器(2)发射的激光束经第一平面反射镜(3)反射至薄玻璃板(4)，经薄玻璃板(4)透射的光被第二平面反射镜(5)反射后与经过薄玻璃板(4)前表面反射的光共同被会聚透镜(6)汇聚到光电探测器(7)的光敏面上，光电探测器(7)输出的光电流信号传送给信号处理系统(8)。
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