[发明专利]粒子检测装置以及粒子检测方法有效

专利信息
申请号: 201410206025.7 申请日: 2014-05-15
公开(公告)号: CN104165826B 公开(公告)日: 2016-11-30
发明(设计)人: 村上久弥 申请(专利权)人: 阿自倍尔株式会社
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00;G01N15/06
代理公司: 上海市华诚律师事务所 31210 代理人: 肖华
地址: 日本东京都千代田*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种能够对粒子进行正确地检测的粒子检测装置以及粒子检测方法。该粒子检测装置具有:壳体(1);配置于壳体(1)的内部的腔室(2);设置于腔室(2)的导入喷嘴(21);样品导入路径(3),其连接设置于壳体(1)的第一导入口(11)和设置于腔室(2)的导入喷嘴(21),用于将包含粒子的流体导入腔室(2);调整机构(5),其通过调整路径(4)向腔室(2)内供给去除了粒子的流体,所述调整用路径(4)从设置于壳体(1)的与第一导入口(11)不同的第二导入口(12)连通到腔室(2);以及将光照射于从导入喷嘴(21)喷出的流体,对流体中包含的粒子进行检测的检测机构(23)。
搜索关键词: 粒子 检测 装置 以及 方法
【主权项】:
一种粒子检测装置,其特征在于,具有:壳体;配置于所述壳体的内部的腔室;样品导入路径,所述样品导入路径用于将包含粒子的流体从设置于所述壳体的第一导入口导入到所述腔室内;被设置于所述腔室的、与所述样品导入路径连接的导入喷嘴;在所述腔室中与所述导入喷嘴相对地设置的排出管嘴;排出路径,所述排出路径连接设置于所述壳体的排出口和所述排出管嘴,用于将所述腔室内的流体排出到所述壳体的外部;调整机构,所述调整机构通过调整用路径将去除了粒子的流体供给到所述腔室内,对所述腔室内的流体的状态进行调整,所述调整用路径从设置于所述壳体的与所述第一导入口不同的第二导入口连通到所述腔室;旁路路径,所述旁路路径从所述调整用路径分支出来,并与所述排出路径合流,在所述旁路路径和所述排出路径的合流部配置有喷射器,通过从所述旁路路径向所述喷射器供给加压流体,所述喷射器对所述腔室内的流体进行吸引;以及检测机构,所述检测机构将光照射于所述腔室内的所述流体,对所述流体中包含的粒子进行检测。
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