[发明专利]一种利用太赫兹时域光谱测定材料孔隙结构的方法

摘要

本发明提供了一种利用太赫兹时域光谱测定材料孔隙结构的方法，包括：步骤1.选择样品材料，并制备两组标准样品；步骤2.利用太赫兹时域光谱装置分别对两组标准样品进行检测，生成两组标准样品的太赫兹时域光谱信号；步骤3.根据太赫兹时域光谱信号，分别生成第一组标准样品的太赫兹波振幅与颗粒大小的对应关系，以及第二组标准样品的太赫兹波振幅与孔隙率的对应关系；步骤4.根据两组对应关系，建立标准太赫兹时域光谱数据库；步骤5.测得待测样品的太赫兹时域光谱信号，将待测样品的太赫兹时域光谱信号与标准太赫兹时域光谱数据库进行比对，分析得到待测样品的孔隙率或颗粒大小。本发明操作简单、检测快速，数据处理过程简单，重复性好。

主权项

一种利用太赫兹时域光谱测定材料孔隙结构的方法，其特征在于，所述方法包括：步骤1，选择样品材料，并制备两组标准样品，第一组标准样品具有相同孔隙率和不同的颗粒大小，第二组标准样品具有相同的颗粒大小和不同的孔隙率；步骤2，利用太赫兹时域光谱装置分别对所述两组标准样品进行检测，生成所述两组标准样品的太赫兹时域光谱信号；步骤3，根据所述的太赫兹时域光谱信号，分别生成第一组标准样品的太赫兹波振幅与颗粒大小的对应关系，以及所述第二组标准样品的太赫兹波振幅与孔隙率的对应关系；步骤4，根据两组对应关系，建立标准太赫兹时域光谱数据库；步骤5，测量得到待测样品的太赫兹时域光谱信号，将所述待测样品的太赫兹时域光谱信号与所述标准太赫兹时域光谱数据库进行比对，分析得到所述待测样品的孔隙率或颗粒大小。