[发明专利]检测设备、电力供应系统以及控制检测设备的方法有效
| 申请号： | 201410196126.0 | 申请日： | 2014-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN104167824B | 公开（公告）日： | 2019-07-12 |
| 发明（设计）人： | 大前宇一郎;木屋川内保 | 申请（专利权）人： | 索尼公司 |
| 主分类号： | H02J50/60 | 分类号： | H02J50/60;H02J7/00;G01V3/12 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及检测设备、电力供应系统以及控制检测设备的方法。检测设备包括：测量线圈，布置在被配置为接收通过磁场供应的电力的电力接收线圈附近；测量部，被配置为测量测量线圈的电压作为测量线圈电压；以及异物检测部，被配置为基于测量线圈电压获得电力接收线圈和测量线圈的至少一个的电气特性值，并且如果电气特性值低于预定的下限阈值，则在磁场中检测到异物。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 设备 电力供应 系统 以及 控制 方法 | ||
【主权项】：
1.一种检测设备，包括：测量线圈，布置在被配置为接收通过磁场供应的电力的电力接收线圈的附近；测量部，被配置为测量所述测量线圈的电压以作为测量线圈电压；以及异物检测部，被配置为基于所述测量线圈电压获得所述电力接收线圈和所述测量线圈中的至少一个的电气特性值，并且如果所述电气特性值低于预定的下限阈值，则在所述磁场中检测到异物；其中，所述电力接收线圈被配置为：当所述测量部测量所述测量线圈电压时，从电力供应线圈接收第一电力量，以及当所述异物检测部未在所述磁场中检测到异物时，从所述电力供应线圈接收第二电力量，所述第二电力量高于所述第一电力量，其中，所述电气特性值选自以下组合中的至少一者：所述电力接收线圈的阻抗；所述测量线圈的电压与所述电力接收线圈的电压的电压比；所述电力接收线圈在接收第一电力时所获得的电压比与在接收第二电力时所获得的电压比之间的差值；所述测量线圈的电压。
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