[发明专利]检测设备、电力供应系统以及控制检测设备的方法

权利要求书

1.一种检测设备，包括：

测量线圈，布置在被配置为接收通过磁场供应的电力的电力接收线圈的附近；

测量部，被配置为测量所述测量线圈的电压以作为测量线圈电压；以及

异物检测部，被配置为基于所述测量线圈电压获得所述电力接收线圈和所述测量线圈中的至少一个的电气特性值，并且如果所述电气特性值低于预定的下限阈值，则在所述磁场中检测到异物；

其中，所述电力接收线圈被配置为：

当所述测量部测量所述测量线圈电压时，从电力供应线圈接收第一电力量，以及

当所述异物检测部未在所述磁场中检测到异物时，从所述电力供应线圈接收第二电力量，所述第二电力量高于所述第一电力量，

其中，所述电气特性值选自以下组合中的至少一者：

所述电力接收线圈的阻抗；所述测量线圈的电压与所述电力接收线圈的电压的电压比；所述电力接收线圈在接收第一电力时所获得的电压比与在接收第二电力时所获得的电压比之间的差值；所述测量线圈的电压。

2.根据权利要求1所述的检测设备，

其中，如果所述电气特性值低于所述下限阈值，或者如果所述电气特性值高于比所述下限阈值大的上限阈值，则所述异物检测部被配置为检测到所述异物。

3.根据权利要求2所述的检测设备，

其中，所述上限阈值高于作为在不存在异物时的所述电气特性值的参考值，并且所述下限阈值是低于所述参考值的值。

4.根据权利要求1所述的检测设备，

其中，所述测量部被配置为进一步测量所述电力接收线圈的电压和电流，以及

所述异物检测部被配置为从所述测量线圈电压以及所述电力接收线圈的所述电压和所述电流中获得所述电力接收线圈的阻抗以作为所述电气特性值。

5.根据权利要求1所述的检测设备，

其中，所述测量部被配置为进一步测量所述电力接收线圈的电压以作为电力接收线圈电压，并且

所述异物检测部被配置为获得所述测量线圈电压与所述电力接收线圈电压的电压比以作为所述电气特性值。

6.根据权利要求5所述的检测设备，

其中，所述测量部被配置为进一步测量所述电力接收线圈的电压以作为电力接收线圈电压，

所述电力接收线圈被配置为依次接收彼此具有不同的电力量的第一电力和第二电力，并且

所述异物检测部被配置为获得在接收所述第一电力时所获得的所述电压比与在接收所述第二电力时所获得的所述电压比之间的差值以作为所述电气特性值。

7.根据权利要求1所述的检测设备，

其中，所述测量线圈被配置为具有比所述电力接收线圈的线圈表面积小的线圈表面积。

8.根据权利要求7所述的检测设备，

其中，所述测量线圈被布置在所述电力接收线圈的内部。

9.根据权利要求1所述的检测设备，

其中，所述测量线圈被布置在与所述电力接收线圈的平面相同的平面上。

10.根据权利要求1所述的检测设备，

其中，所述测量线圈被布置在所述测量线圈的线圈表面与所述电力接收线圈的线圈表面具有相同的中心位置的位置处。

11.根据权利要求1所述的检测设备，

其中，所述电力是从电力供应设备供应的电力，并且

所述检测设备进一步包括发送部，被配置为如果检测到所述异物，则发送请求降低所述电力的量的控制信号。