[发明专利]芯片筛选方法和装置有效
| 申请号： | 201410191097.9 | 申请日： | 2014-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN105095618B | 公开（公告）日： | 2018-02-06 |
| 发明（设计）人： | 崔禾捷;张国强;钟进国 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 | 代理人： | 刘芳 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片筛选方法和装置，其中方法包括计算待判定芯片的周边范围内的每个芯片的第一影响因数，并将所述周边范围内的各芯片的第一影响因数求和得到影响因数和；根据所述影响因数和，将所述周边范围内的每个芯片的第一影响因数归一化，得到第二影响因数；将所述周边范围内的有效芯片的所述第二影响因数求和，得到所述待判定芯片的周边芯片相关因数NDCF；若所述待判定芯片的所述NDCF满足预设的筛选条件，则确定所述待判定芯片为潜在失效率大的芯片。本发明降低了芯片筛选的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 筛选 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种芯片筛选方法，用于从多个芯片中筛选出潜在失效率大的芯片，其特征在于，包括：计算待判定芯片的周边范围内的每个芯片的第一影响因数，并将所述周边范围内的各芯片的第一影响因数求和得到影响因数和；所述待判定芯片是晶圆测试中的其中一个良品芯片；根据所述影响因数和，将所述周边范围内的每个芯片的第一影响因数归一化，得到每个芯片的第二影响因数；将所述周边范围内的多个有效芯片的所述第二影响因数求和，得到所述待判定芯片的周边芯片相关因数NDCF；每个所述有效芯片为真实存在且与所述待判定芯片不同的不良品芯片；若所述待判定芯片的所述NDCF满足预设的筛选条件，则确定所述待判定芯片为潜在失效率大的芯片。
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