[发明专利]双光束分光系统无效
| 申请号： | 201410182251.6 | 申请日： | 2014-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN103983354A | 公开（公告）日： | 2014-08-13 |
| 发明（设计）人： | 颜昌翔;刘怡轩 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01J3/02;G01J3/04;G01J3/18 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 南小平 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 双光束分光系统属于光谱仪器设计领域，目的在于解决现有技术存在体积大成本高和由于光谱重叠造成的测量错误的问题。本发明的双光束分光系统包括入射狭缝Ⅰ、入射狭缝Ⅱ、衍射光栅和探测器，所述入射狭缝Ⅰ和入射狭缝Ⅱ按长度方向排列，分别经入射狭缝Ⅰ和入射狭缝Ⅱ输入的样品光和参考光分别经衍射光栅色散，经衍射光栅色散后的样品光束光谱和参考光束光谱在探测器上并排排列。本发明的双光束分光系统通过长度方向上并排设置的入射狭缝Ⅰ和入射狭缝Ⅱ入射样品光和参考光，并经过衍射光栅和探测器获得样品光束光谱和参考光束光谱，使一个分光系统实现双光束分光系统的功能，且两束光不会重叠串扰，避免由于光束重叠带来的测量错误的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 光束 分光 系统 | ||
【主权项】：
双光束分光系统，包括入射狭缝Ⅰ(1)、入射狭缝Ⅱ(2)、衍射光栅和探测器，其特征在于，所述入射狭缝Ⅰ(1)和入射狭缝Ⅱ(2)按长度方向排列，分别经入射狭缝Ⅰ(1)和入射狭缝Ⅱ(2)输入的样品光和参考光分别经衍射光栅色散，经衍射光栅色散后的样品光束光谱(5)和参考光束光谱(6)在探测器上并排排列。
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