[发明专利]一种用于真空低温条件下的超大面源黑体校准系统有效

专利信息
申请号: 201410174914.X 申请日: 2014-04-28
公开(公告)号: CN103954366B 公开(公告)日: 2017-02-15
发明(设计)人: 张玉国;魏建强;孙红胜;杨旺林;刘亚平 申请(专利权)人: 北京振兴计量测试研究所
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00
代理公司: 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙)11200 代理人: 余长江
地址: 100074 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种用于真空低温条件下的超大面源黑体校准系统。本系统包括红外信号传输光学系统、光调制器、红外探测器、AD信号采集卡、二维扫描装置、计算机控制单元;其中红外信号传输光学系统位于待校准面源黑体之前,安装在二维扫描转置上,红外信号传输光学系统的输出端与光调制器输入端连接;红外探测器用于接收光调制器的输出信息,其输出端经AD信号卡与计算机控制单元连接;待校准面源黑体、红外信号传输光学系统、光调制器、红外探测器、AD信号采集卡、二维扫描装置位于同一真空仓内。本发明能够实现真空低温条件下超大面源黑体校准的系统,填补了此项技术空白。
搜索关键词: 一种 用于 真空 低温 条件下 大面 黑体 校准 系统
【主权项】:
一种用于真空低温条件下的超大面源黑体校准系统,其特征在于包括红外信号传输光学系统、光调制器、红外探测器、AD信号采集卡、二维扫描装置、计算机控制单元;其中所述红外信号传输光学系统位于待校准面源黑体之前,安装在所述二维扫描装置上,所述红外信号传输光学系统的输出端与所述光调制器输入端连接,用于对待校准面源黑体的红外光线进行扫描并传输给所述光调制器;所述红外探测器用于接收所述光调制器的输出信息,其输出端经所述AD信号卡与所述计算机控制单元连接;其中待校准面源黑体、红外信号传输光学系统、光调制器、红外探测器、AD信号采集卡、二维扫描装置位于同一真空舱内;其中,所述光调制器与所述红外探测器之间设有一调制盘和参考黑体;所述调制盘具有周期分布的通孔,通孔之间的非透光部分设有反射镜,所述调制盘通过其上的通孔和反射镜周期性的将所述光调制器的输出信息和所述参考黑体的辐射能量传输到所述红外探测器。
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