[发明专利]用于真空低温条件下的超大面源黑体校准系统在审
| 申请号： | 201410174852.2 | 申请日： | 2014-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN103940519A | 公开（公告）日： | 2014-07-23 |
| 发明（设计）人： | 张玉国;魏建强;孙红胜;杨旺林;刘亚平 | 申请（专利权）人： | 北京振兴计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01J5/52 | 分类号： | G01J5/52 |
| 代理公司： | 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 | 代理人： | 余长江 |
| 地址： | 100074 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于真空低温条件下的超大面源黑体校准系统。本系统包括转接接口、折转光学系统、成像镜组、调焦镜组、红外面阵探测器、信号处理单元；待测面源黑体与所述折转光学系统位于同一真空舱内，所述成像镜组通过所述转接接口与所述真空舱连接；所述折转光学系统位于待测面源黑体之前，用于将待测面源黑体的红外光线反射入所述成像镜组输入端口，所述成像镜组输出光线经所述调焦镜组输入所述红外面阵探测器，其输出端经AD信号卡与所述信号处理单元连接。本发明能够实现真空低温条件下超大面源黑体校准的系统，填补了此项技术空白。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 真空 低温 条件下 大面 黑体 校准 系统 | ||
【主权项】：
一种用于真空低温条件下的超大面源黑体校准系统，其特征在于包括转接接口、折转光学系统、成像镜组、调焦镜组、红外面阵探测器、信号处理单元；待测面源黑体与所述折转光学系统位于同一真空舱内，所述成像镜组通过所述转接接口与所述真空舱连接；所述折转光学系统位于待测面源黑体之前，用于将待测面源黑体的红外光线反射入所述成像镜组输入端口，所述成像镜组输出光线经所述调焦镜组输入所述红外面阵探测器，其输出端经AD信号卡与所述信号处理单元连接。
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