[发明专利]三通道探头校验方法及专用校验试块

摘要

本发明涉及超声波探伤设备领域，尤其涉及一种自动超声波探伤探头校验方法和校验试块。一种三通道探头校验方法，在同一检测面下设置三个不同深度的校验孔，根据扫描图上三个校验孔显示出的不同缺陷信号的位置判定待校验探头的通道位置，对扫描图上的界面波占宽和底波余量进行判定，同时满足条件1、2的待校验探头判定为合格，否则该待校验探头判定为不合格。一种校验试块，包括校验块本体，校验块本体的顶面为试块检测面，校验块本体的顶部四周设置有探头定位围栏，校验块本体的底面开设有三个校验孔。本发明消除了原来自动超声波探伤探头校验无法区分通道信号是否正确，界面波占宽高造成图谱信号混乱的缺点，实现了通道信号定位精准，校验过程简单有效。

主权项

一种三通道探头校验方法，其特征是，设定界面波占宽阈值和底波空间余量阈值，然后进行以下步骤：S1：在同一检测面下设置三个不同深度的校验孔，三个校验孔分别与待校验探头中的三个晶片位置对应；所述的校验孔为平底孔，孔的底面与试块检测面平行；S2：开始校验得到扫描图，根据扫描图上三个校验孔显示出的不同缺陷信号的位置判定待校验探头的通道位置，如果通道位置错误则判定该待校验探头不合格，完成本次校验；如果通道位置正确继续下一步骤；S3、对扫描图上的界面波占宽和底波空间余量进行判定，同时满足条件1、2的待校验探头判定为合格，否则该待校验探头判定为不合格；条件1，界面波占宽小于等于界面波占宽阈值；条件2，底波空间余量大于等于底波空间余量阈值；所述的底波空间余量ΔdB具体为，ΔdB=BE‑EE，其中BE为一次底波波幅值，EE为界面波波幅值。