[发明专利]探测器像素响应非均匀误差校正装置及其校正的方法有效

专利信息
申请号: 201410148101.3 申请日: 2014-04-14
公开(公告)号: CN103983571B 公开(公告)日: 2017-01-11
发明(设计)人: 杨福桂;李明;盛伟繁 申请(专利权)人: 中国科学院高能物理研究所
主分类号: G01N21/00 分类号: G01N21/00;G01B11/24
代理公司: 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙)11435 代理人: 孟阿妮
地址: 100049 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种探测器像素响应非均匀误差校正装置及其校正的方法,该装置包括依次设置的激光光源组件、耦合透镜、光纤、容器和黑箱;容器内设有散射介质溶液,光纤插入散射介质溶液中,黑箱内设有待校准的探测器,待校准的探测器连接信号采集和处理模块。该校正的方法:将激光光源组件射出的准直激光经过耦合透镜聚焦至光纤,光纤将激光从入射端面进入散射介质溶液中,散射介质溶液对激光进行体散射,散射光从出射端面透射入黑箱中,并在待校准的探测器位置形成均匀光场;信号采集和处理模块对试验数据采集、处理,获得校正数据。本发明实现探测器像素响应非均匀的校正波长与实际激光测量系统的激光光源波长匹配;从而实现高精度的激光测量。
搜索关键词: 探测器 像素 响应 均匀 误差 校正 装置 及其 方法
【主权项】:
一种探测器像素响应非均匀误差校正装置,其特征在于:包括依次设置的激光光源组件、耦合透镜、光纤、容器、黑箱和信号采集和处理模块;所述容器内设有散射介质溶液,所述光纤一端插入散射介质溶液中,所述黑箱用于放置待校准的探测器,所述待校准的探测器连接信号采集和处理模块;所述激光光源组件,用于提供指定波长、稳定功率和准直的激光;所述耦合透镜,用于将激光光源组件提供的激光聚焦并耦合到光纤中;所述光纤,用于将经耦合透镜的激光传递至散射介质溶液内部;所述散射介质溶液,用于散射光纤导出的激光;所述黑箱,用于遮挡和吸收杂散光;所述信号采集和处理模块,用于对在待校准的探测器位置形成的均匀光场进行数据采集和处理,得到校正数据。
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