[发明专利]一种光轴跳动量测试系统无效

专利信息
申请号: 201410143038.4 申请日: 2014-04-01
公开(公告)号: CN103994876A 公开(公告)日: 2014-08-20
发明(设计)人: 陈振兴;史圣兵;秦少刚;韩福利;刘国权;史睿冰;陈泽峰;陈允刚;任成才;滕静东 申请(专利权)人: 中国人民解放军63863部队
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 137001*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 一种光轴跳动量测试系统,包括:抛物面反射镜、平面反射镜、目标源、光栅尺、直线导轨、滑移台、位移控制机构、图像采集与处理机构;所述滑移台可在所述直线导轨上移动;所述位移控制机构控制滑移台的移动;所述目标源固定在滑移台上;所述光栅尺用于测量目标源沿导轨在主光轴上的离焦位移量,进而计算出模拟的目标距离;所述目标源为工作在各谱段的被测光电仪器提供光轴跳动量测试时的瞄准目标;光信号由目标源经平面反射镜反射后再由抛物面反射镜反射后至被测光电仪器,形成测试光路;根据目标源在不同位置时,图像采集与处理机构所采集到的信号的不同,计算得出被测光电仪器观察远近目标时调焦前后光轴的变化量。
搜索关键词: 一种 光轴 跳动 测试 系统
【主权项】:
一种光轴跳动量测试系统,包括:光学平台(1)、离轴抛物面反射镜组件(2)、平面反射镜组件(3)、目标源组件(4)、光栅尺(5)、导轨(6)、滑移台(7)、位移控制机构(8)、图像采集与处理系统(9);其特征在于:所述各部件安装固定在隔振且稳定的光学平台(1)上;所述目标源组件(4)能够为工作在各谱段的被测光电仪器(10)提供光轴跳动量测试时的瞄准目标;所述目标源组件(4)固定在滑移台(7)上;所述滑移台(7)可在所述导轨(6)上移动;所述位移控制机构(8)控制滑移台(7)的移动;所述光栅尺(5)读数头固定在滑移台(7)上,随目标源组件(4)同时移动,并测量目标源组件(4)沿导轨(6)在主光轴上的离焦位移量,进而计算出模拟的目标距离;所述目标源组件(4)产生的目标光信号经平面反射镜组件(3)反射后再由离轴抛物面反射镜组件(2)反射并投射至被测光电仪器(10),形成测试光路;所述图像采集与处理系统(9)采集被测光电仪器(10)观测到的图像,判读出各测试位置瞄准分划中心相对目标点是否存在偏差,若存在偏差则由目标源二维测微机构测量出该处偏差变化量,根据该位置的光学位置关系,进而计算出被测光电仪器观察远近目标时调焦前后光轴指向的角变化量。
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