[发明专利]电子设备性能测试方法及装置有效
| 申请号： | 201410126475.5 | 申请日： | 2014-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN103902420A | 公开（公告）日： | 2014-07-02 |
| 发明（设计）人： | 蔡旋 | 申请（专利权）人： | 北京安兔兔科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 马敬;项京 |
| 地址： | 100041 北京市石景山区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种电子设备性能测试方法及装置。该方法包括：接收测试指令；响应测试指令，对电子设备进行性能测试，获得当前性能结果；确定电子设备对应的基准性能信息；根据当前性能结果和基准性能信息，判断当前性能结果相对于基准性能信息是否发生波动且波动的程度达到预设要求；如果是，输出当前性能结果和用于表明当前性能结果发生波动的提示信息。与现有技术相比，本方案中将当前性能结果与基准性能信息对比，当对比结果表明所测试出的性能结果的波动程度较大时提示用户，从而提高了用户的测试体验。 | ||
| 搜索关键词： | 电子设备 性能 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种电子设备性能测试方法，其特征在于，包括：接收测试指令；响应所述测试指令，对所述电子设备进行性能测试，获得当前性能结果；确定所述电子设备对应的基准性能信息；根据所述当前性能结果和所述基准性能信息，判断所述当前性能结果相对于所述基准性能信息是否发生波动且所述波动的程度达到预设要求；如果是，输出所述当前性能结果和用于表明所述当前性能结果发生波动的提示信息。
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