[发明专利]一种关联成像系统有效
申请号: | 201410125688.6 | 申请日: | 2014-03-31 |
公开(公告)号: | CN103955057A | 公开(公告)日: | 2014-07-30 |
发明(设计)人: | 李明飞;吴令安 | 申请(专利权)人: | 中国科学院物理研究所 |
主分类号: | G02B27/00 | 分类号: | G02B27/00 |
代理公司: | 北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙) 11391 | 代理人: | 范晓斌;薛峰 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种关联成像系统,用于利用热光源对待成像物体进行关联成像,包括:物臂光路,其中设有第一桶探测器和待成像物体,第一桶探测器采样物臂光路中经过待成像物体后的总光场强度信号Sm;第一参考臂光路,其中设有采样第一参考臂光路的光场强度分布信息的参考探测器装置;参考探测器装置包括至少一个参考探测器单元,每一参考探测器单元包括时序控制器和由其控制的多个具有空间分辨能力的参考探测器,在时序控制器控制下多个参考探测器能依次进行曝光以进行采样。本发明采用多个参考探测器按时间顺序交替曝光,使得曝光帧率可迭加起来,突破了现有参考探测器在采样速度上的限制,从而大大提高了采样速度,缩短了成像时间。 | ||
搜索关键词: | 一种 关联 成像 系统 | ||
【主权项】:
一种关联成像系统,用于利用热光源(1)对待成像物体(3)进行关联成像,包括:物臂光路,所述物臂光路中设有第一桶探测器(45)和所述待成像物体(3),所述第一桶探测器(45)用于采样所述物臂光路中经过所述待成像物体(3)后的总光场强度信号Sm,m表示采样次序;第一参考臂光路,所述第一参考臂光路中设有用于采样所述第一参考臂光路的光场强度分布信息的参考探测器装置;其中,所述参考探测器装置包括至少一个参考探测器单元(15、16),每一所述参考探测器单元(15、16)包括时序控制器和由所述时序控制器控制的多个具有空间分辨能力的参考探测器;其中,在所述时序控制器控制下所述多个参考探测器能依次进行曝光以进行所述采样。
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