[发明专利]一种关联成像系统有效

专利信息
申请号: 201410125688.6 申请日: 2014-03-31
公开(公告)号: CN103955057A 公开(公告)日: 2014-07-30
发明(设计)人: 李明飞;吴令安 申请(专利权)人: 中国科学院物理研究所
主分类号: G02B27/00 分类号: G02B27/00
代理公司: 北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙) 11391 代理人: 范晓斌;薛峰
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 关联 成像 系统
【权利要求书】:

1.一种关联成像系统,用于利用热光源(1)对待成像物体(3)进行关联成像,包括:

物臂光路,所述物臂光路中设有第一桶探测器(45)和所述待成像物体(3),所述第一桶探测器(45)用于采样所述物臂光路中经过所述待成像物体(3)后的总光场强度信号Sm,m表示采样次序;

第一参考臂光路,所述第一参考臂光路中设有用于采样所述第一参考臂光路的光场强度分布信息的参考探测器装置;

其中,所述参考探测器装置包括至少一个参考探测器单元(15、16),每一所述参考探测器单元(15、16)包括时序控制器和由所述时序控制器控制的多个具有空间分辨能力的参考探测器;其中,在所述时序控制器控制下所述多个参考探测器能依次进行曝光以进行所述采样。

2.根据权利要求1所述的关联成像系统,其中,

每一所述参考探测器单元还包括:分束装置,用于从所述第一参考臂光路中分出并列的多个子参考光路,每一所述参考探测器分别布置在对应的所述子参考光路中。

3.根据权利要求1-2中任一项所述的关联成像系统,其中,还包括:

第二参考臂光路,所述第二参考臂光路中设有第二桶探测器(78),用于采样所述第二参考臂光路的总光场强度信号Rm;和

阈值构建单元,用于根据所述总光场强度信号Sm和总光场强度信号Rm的比值信号Tm(Sm/Rm)的预定采样次数M0的平均值To确定针对所述比值信号Tm的上阈值To+和下阈值To,其中,To+>To>To

其中,所述参考探测器装置设置成仅在所述比值信号Tm大于所述上阈值To+的情况下或者所述比值信号Tm小于所述下阈值To的情况下进行所述采样。

4.根据权利要求3所述的关联成像系统,其中,所述阈值构建单元包括:

第一除法器(9),用于接收来自所述第一桶探测器的所述总光场强度信号Sm和来自所述第二桶探测器(78)的所述总光场强度信号Rm,并产生所述比值信号Tm

累加器(11),用于对所述预定采样次数M0的所述比值信号Tm进行累加;

第二除法器(12),用于根据所述累加器的累加结果和所述预定采样次数M0获得所述平均值To;和

鉴别器(13),用于根据所述平均值To生成所述上阈值To+和所述下阈值To,将所述比值信号Tm与所述上阈值To+和下阈值To进行比较,并仅在所述比值信号Tm大于所述上阈值To+时或者所述比值信号Tm小于所述下阈值To时向所述参考探测器装置发送一曝光触发信号,以触发所述参考探测器装置进行所述采样。

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