[发明专利]一种用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统及其测试方法在审
| 申请号： | 201410111413.7 | 申请日： | 2014-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN103856277A | 公开（公告）日： | 2014-06-11 |
| 发明（设计）人： | 张家平;姚僖 | 申请（专利权）人： | 武汉威士讯信息技术有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00 |
| 代理公司： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人： | 苏敏 |
| 地址： | 430074 湖北省武汉市东湖新技术*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 一种用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统，包括待测ZigBee DUT、ZigBee测试仪、测试系统平台，所述待测ZigBee DUT与ZigBee测试仪通过射频线通信连接，ZigBee测试仪通过GPIB总线或网络接口与测试系统平台连接。测试方法包括如下步骤：（1）加载项目配置文件，将待测ZigBee DUT的测量项目和测试环境配置参数导入测试系统平台中；（2）自动控制ZigBee测试仪与待测ZigBee DUT进行通信；（3）自动控制ZigBee测试仪进行指定测量项目的测量，读取并实时显示测试结果；（4）测量结束后，将测量结果保存。本发明的有益效果：利用GPIB总线和网络对ZigBee射频性能进行自动测试，使用方便，能提高ZigBee设备研发与生产的进度，系统形成后无需人为参于，可以节约更多的人力成本。 | ||
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【主权项】：
一种用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统，其特征在于：包括待测ZigBee DUT、ZigBee测试仪、测试系统平台，所述待测ZigBee DUT与ZigBee测试仪通过射频线通信连接，ZigBee测试仪与测试系统平台通信连接，所述测试系统平台由电源、背板、控制器、存储单元、键盘、显示器及机箱结构组件构成，电源给背板供电，存储单元通过CF插槽插在控制器上，控制器通过PXI接口插在背板上，键盘通过USB接口连接在控制器上，显示器通过VGA接口连接在控制器上，测试系统平台的电源、背板、控制器、存储单元、键盘、显示器固定于机箱结构组件上。
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