[发明专利]分析离子结构的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201410090656.7 申请日: 2014-03-12
公开(公告)号: CN104915531B 公开(公告)日: 2018-02-02
发明(设计)人: 徐伟;辛怡;陈煜;郑丽;方向 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 北京律智知识产权代理有限公司11438 代理人: 姜燕
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开涉及一种分析离子结构的方法和装置,所述方法包括以下步骤步骤1,对从离子质量分析器获得的待测离子的镜像电流的时域信号作预处理,得到待测信号;步骤2,通过傅立叶变换,提取所述待测信号的谱峰位置信息;步骤3,对谱峰信号进行调制,得到经调制的信号;步骤4,对所述经调制的信号进行滤波,得到经滤波的信号;步骤5,对所述经滤波的信号估计离子运动模型参数,通过所估计的参数确定待测离子的结构特征信息。应用本公开的分析离子结构的方法和装置,可直接通过分析离子镜像电流的时域信号实现离子结构分析。
搜索关键词: 分析 离子 结构 方法 装置
【主权项】:
一种分析离子结构的方法,包括以下步骤:步骤1,对从离子质量分析器获得的待测离子的镜像电流的时域信号作预处理,得到待测信号;步骤2,提取所述待测信号的谱峰信号;步骤3,对所述谱峰信号进行调制,得到经调制的信号;步骤4,对所述经调制的信号进行滤波,得到经滤波的信号;步骤5,对所述经滤波的信号估计离子运动模型参数,通过所估计的参数确定待测离子的结构特征信息,其中所述步骤3包括:估计所述谱峰信号的初始相位然后用所估计的初始相位对所述谱峰信号进行低频调制,得到所述经调制的信号。
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