[发明专利]光学独立点测量有效
| 申请号： | 201410085277.9 | 申请日： | 2014-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN103968763B | 公开（公告）日： | 2017-08-29 |
| 发明（设计）人： | 托马斯·延森;克努特·西尔克斯;P·钱普;M·盖尔 | 申请（专利权）人： | 赫克斯冈技术中心;海克斯康计量公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人： | 王小东 |
| 地址： | 瑞士赫*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及光学独立点测量。用于对物体上的待测点(10)的距离测量方法包括执行测量过程，包括发射测量射线，其中，当测量射线的光学测量轴与待测点(10)对准时，在物体上由射线的光束截面限定光学测量点区域(11)，特别是通过与测量射线的高斯射线分别标准差σ最大10倍对应，特别是最大8倍对应的截面限定，并接收物体反射的测量射线，并根据接收的测量过程的测量射线确定到物体上点(10)的距离。就测量过程而言，这包括对于测量射线的发送和接收至少执行一次测量方向的变换作为测量射线的发射方向，每次执行测量方向的变换，使得物体上光束截面限定的各个面心都位于测量点区域(11)内。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 独立 测量 | ||
【主权项】：
一种用于对物体(25)上的待测点(10)进行距离测量的方法，该方法包括：a)执行测量过程，该测量过程包括：a1)发射测量射线(30)，其中，当所述测量射线(30)的光学测量轴线与所述待测点(10)对准时，由所述射线的光束截面在所述物体(25)上限定出光学测量点区域(11)，以及a2)接收在所述物体(25)处反射的测量射线(30)，以及b)根据所述测量过程的所接收的测量射线(30)来确定到所述物体(25)上的所述点(10)的距离，其特征在于，就所述测量过程而言，包括对于所述测量射线(30)的发送和接收，执行至少一次变换所述测量方向作为所述测量射线(30)的发射方向，其中每次执行所述测量方向的变换，使得在所述物体(25)上由所述光束截面限定的各个面心(20，20’)位于所述测量点区域(11)内。
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