[发明专利]一种光伏组件抗PID衰减的测试方法无效

专利信息
申请号: 201410074629.0 申请日: 2014-03-03
公开(公告)号: CN103795341A 公开(公告)日: 2014-05-14
发明(设计)人: 赵庆生;吴宝安;王明国;曹彦辉 申请(专利权)人: 江苏万丰光伏有限公司
主分类号: H02S50/10 分类号: H02S50/10
代理公司: 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 代理人: 任立
地址: 212200 江苏省镇*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种光伏组件抗PID衰减的测试方法,首先构建一个用于测试光伏组件抗PID衰减的气候室,并在气候室中对光伏组件户外工作的温度与湿度进行模拟,通过对光伏组件PID衰减的环境条件进行强化模拟,提高光伏组件的PID衰减速率;利用光伏组件PID衰减前后的功率变化计算出光伏组件抗PID衰减的能力;本发明所设计的光伏组件抗PID衰减的测试方法通过对光伏组件的真实工作环境进行模拟,提高光伏组件的PID衰减速率,从而准确检测出光伏组件的抗PID衰减性能。
搜索关键词: 一种 组件 pid 衰减 测试 方法
【主权项】:
1.一种光伏组件抗PID衰减的测试方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤(1):将待测光伏组件依次进行外观检测、最大功率测定和绝缘测试,确定待测光伏组件为正常光伏组件后继续执行步骤(2),否则重新选取待测光伏组件重复步骤(1);步骤(2):构建一个用于测试光伏组件抗PID衰减的气候室并将PID测试电源放置在气候室外,所述气候室中包括温度控制器、湿度控制器和温度记录测试仪,还包括用于放置光伏组件的安装或支承装置,所述安装或支承装置为绝缘材质;步骤(3):将待测光伏组件的一侧表面贴导电铜胶带或导电铝胶带,将待测光伏组件上的接线盒正负极端连接PID测试电源的高压线输出端,接线盒的接地柱与PID测试电源的地线输出端连接,将温度记录测试仪探头固定在光伏组件的一侧玻璃表面,所述温度记录测试仪用于监测待测光伏组件的表面温度;关闭气候室,调节气候室内的温度为60℃±2℃,湿度为85%RH±5%RH,当待测光伏组件的温度与气候室内温度相同时,打开PID测试电源,设置测试电压参数为“-1000V”,记录下开始时刻待测光伏组件的功率,定义为待测光伏组件初始功率P1,测试时间为95-98个小时;测试完成时记录下光伏组件PID衰减后功率P2,利用公式计算出待测光伏组件PID衰减幅度百分比P;若P<5%,则继续执行步骤(4),若P>5%,则认定待测光伏组件抗PID衰减性能不合格,测试结束;步骤(4):待气候室冷却至室温后,将待测光伏组件取出环境箱,恢复4-8小时后,对待测光伏组件依次进行外观检测、最大功率测定和绝缘测试,判断各项测试是否无异常,若无异常,则待测光伏组件的抗PID衰减性能即为合格;若有异常,则待测光伏组件的抗PID衰减性能即为不合格。
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