[发明专利]一种光伏组件抗PID衰减的测试方法

权利要求书

1.一种光伏组件抗PID衰减的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤（1）：将待测光伏组件依次进行外观检测、最大功率测定和绝缘测试，确定待测光伏组件为正常光伏组件后继续执行步骤（2），否则重新选取待测光伏组件重复步骤（1）；

步骤（2）：构建一个用于测试光伏组件抗PID衰减的气候室并将PID测试电源放置在气候室外，所述气候室中包括温度控制器、湿度控制器和温度记录测试仪，还包括用于放置光伏组件的安装或支承装置，所述安装或支承装置为绝缘材质；

步骤（3）：将待测光伏组件的一侧表面贴导电铜胶带或导电铝胶带，将待测光伏组件上的接线盒正负极端连接PID测试电源的高压线输出端，接线盒的接地柱与PID测试电源的地线输出端连接，将温度记录测试仪探头固定在光伏组件的一侧玻璃表面，所述温度记录测试仪用于监测待测光伏组件的表面温度；

关闭气候室，调节气候室内的温度为60℃±2℃，湿度为85%RH±5%RH，当待测光伏组件的温度与气候室内温度相同时，打开PID测试电源，设置测试电压参数为“-1000V”，记录下开始时刻待测光伏组件的功率，定义为待测光伏组件初始功率P₁，测试时间为95-98个小时；

测试完成时记录下光伏组件PID衰减后功率P₂，利用公式计算出待测光伏组件PID衰减幅度百分比P；

若P<5%，则继续执行步骤（4），若P>5%,则认定待测光伏组件抗PID衰减性能不合格，测试结束；

步骤（4）：待气候室冷却至室温后，将待测光伏组件取出环境箱，恢复4-8小时后，对待测光伏组件依次进行外观检测、最大功率测定和绝缘测试，判断各项测试是否无异常，若无异常，则待测光伏组件的抗PID衰减性能即为合格；若有异常，则待测光伏组件的抗PID衰减性能即为不合格。

2.根据权利要求1所述的光伏组件抗PID衰减的测试方法，其特征在于，步骤（3）中调节气候室内的温度为60℃，湿度为85%rh，测试时间为96个小时。

3.根据权利要求1所述的光伏组件抗PID衰减的测试方法，其特征在于，所述气候室中能够同时测试一个或多个光伏组件。

4.根据权利要求1至3中任意一项权利要求所述的光伏组件抗PID衰减的测试方法，其特征在于，当气候室中待测光伏组件数量为多个时，所述温度记录测试仪只需安装在其中任意一个光伏组件的一侧表面上。