[发明专利]光盘库装置的光盘检查方法和光盘库装置无效
| 申请号： | 201410058043.5 | 申请日： | 2014-02-20 |
| 公开（公告）号： | CN104078070A | 公开（公告）日： | 2014-10-01 |
| 发明（设计）人： | 安川贵清 | 申请（专利权）人： | 日立乐金资料储存股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 龙淳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的目的为在装载多个光驱动器的光盘库装置中降低温度变化导致的记录再现性能的劣化。在本发明的光盘库装置中，分析光盘的品质劣化的原因，为了实施与该原因相应的恢复，测量上述光盘库装置内的温度，基于上述测量到的温度，决定检查上述光盘的检查周期，根据上述决定的周期，由上述光驱动器进行对储存在上述光盘库装置中的已记录的上述光盘的记录品质的检查。 | ||
| 搜索关键词： | 盘库 装置 光盘 检查 方法 | ||
【主权项】：
一种装载有光盘和光驱动器的光盘库装置的光盘检查方法，其特征在于：测量所述光盘库装置内的温度，根据所述测量到的温度决定检查所述光盘的检查周期，根据所述决定的周期，由所述光驱动器进行对储存在所述光盘库装置中的已记录的所述光盘的记录品质的检查。
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