[发明专利]校准椭偏测量中应力元件带来的误差影响的方法在审
申请号: | 201410057946.1 | 申请日: | 2014-02-20 |
公开(公告)号: | CN104864815A | 公开(公告)日: | 2015-08-26 |
发明(设计)人: | 钟凤娇;高海军;党江涛 | 申请(专利权)人: | 睿励科学仪器(上海)有限公司 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06;G01N21/21 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 郑立柱;邵桂礼 |
地址: | 201203 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种校准椭偏测量中应力元件带来的误差影响的方法,该方法包括如下步骤:i)找出应力元件的本征坐标系;ii)测量出应力元件在本征坐标系下的Mueller矩阵;iii)将应力元件装调到目标椭偏仪中。通过对硬件装调的设计,物理上减小了应力元件的作用,应力元件引入的误差降到最小;通过硬件装调,使得定标变得简单,定标量减少,降低了数学算法的复杂度。 | ||
搜索关键词: | 校准 测量 应力 元件 带来 误差 影响 方法 | ||
【主权项】:
一种校准椭偏测量中应力元件带来的误差影响的方法,其特征在于,包括如下步骤:i)找出所述应力元件的本征坐标系;ii)测量出所述应力元件在所述本征坐标系下的Mueller矩阵;iii)将所述应力元件装调到目标椭偏仪中。
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