[发明专利]用于磨削阶段大口径非球面光学元件轮廓测量方法有效
| 申请号: | 201410055626.2 | 申请日: | 2014-02-19 |
| 公开(公告)号: | CN103776391B | 公开(公告)日: | 2016-11-30 |
| 发明(设计)人: | 郭隐彪;张东旭;杨平;叶世蔚 | 申请(专利权)人: | 厦门大学 |
| 主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
| 代理公司: | 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 | 代理人: | 马应森 |
| 地址: | 361005 *** | 国省代码: | 福建;35 |
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| 摘要: | 用于磨削阶段大口径非球面光学元件轮廓测量方法,涉及非球面光学元件的测量。对磨削阶段大口径非球面光学元件一条轮廓线进行分段,设划分段数为M,且相邻两段之间要有重叠区域,设重叠区域为p1,p2,…,pm‑1;利用测量设备对所划分的M段分别测量,得到各段的测量数据;利用多体系统理论、泰勒级数和最小二乘原理以及重叠区域数据,将大口径非球面光学元件轮廓所划分的M段的测量数据进行拼接;利用曲率原理和非球面方程最小二乘拟合方法,将各段拼接时重叠区域的冗余数据剔除;对剔除冗余数据后的全段轮廓进行综合优化处理,得到整段轮廓的整体测量结果。 | ||
| 搜索关键词: | 用于 磨削 阶段 口径 球面 光学 元件 轮廓 测量方法 | ||
【主权项】:
用于磨削阶段大口径非球面光学元件轮廓测量方法,其特征在于包括以下步骤:1)对磨削阶段大口径非球面光学元件一条轮廓线进行分段,设划分段数为M,且相邻两段之间要有重叠区域,设重叠区域为p1,p2,…,pm‑1;2)利用测量设备对所划分的M段分别测量,得到各段的测量数据;3)利用多体系统理论、泰勒级数和最小二乘原理以及重叠区域数据,将大口径非球面光学元件轮廓所划分的M段的测量数据进行拼接;所述拼接的具体步骤如下:设相邻两段子轮廓为AB和CD,重叠区域为CB,AB段测量完成后,测量CD段时,需要将其沿测头运动方向和传感器测量方向平动,沿与上述两个方向确定的平面相垂直的方向转动,设测头运动方向为X轴方向,传感器测量方向为Z轴方向,CD段绕Y轴方向转动,CD段向AB段进行空间位置归一化变换时,将该过程描述为:(xjcal yjcal zjcal 1)T=Rijl·Tijl·ΔRijl·ΔTijl·(xj yj zj 1)T (1)![]()
式中,Rijl为理想情况下CD段绕Y轴旋转变换矩阵,Tijl为理想情况下CD段沿X、Z方向平移变换矩阵,βijl为绕Y轴旋转角度,xijl、zijl分别为沿X、Z方向移动位移;ΔRijl为CD段绕Y轴旋转误差运动矩阵,ΔTijl为CD段沿X、Z方向平移误差运动矩阵,Δβijl为绕Y轴旋转角度误差,Δxijl、Δzijl分别为沿X、Z方向移动位移误差;(xjcal,yjcal,zjcal)即为在实际拼接测量中,CD段在AB段测量坐标系O1‑X1Y1Z1下的坐标值;在实际测量过程中,因为分段规划是预先设计的,所以βijl、xijl、zijl是已知的,即有:(xnjcal ynjcal znjcal 1)T=Rijl·Tijl·(xj yj zj 1)T (2)(xjcal yjcal zjcal 1)T=ΔRijl·ΔTijl·(xnjcal ynjcal znjcal 1)T (3)式中,(xnjcal,ynjcal,znjcal)为在理想情况下,CD段经过运动变换后的轮廓坐标值;为了使式(3)的数学模型具有更好的工程应用性,用泰勒级数对式(3)进行展开,得到方程组:![]()
设重叠区域CB在AB、CD段中测量点集分别为(xis,yis,zis),其中i=1,2,…,p和(xjs,yjs,zjs),其中j=1,2,…,p;将(xjs,yjs,zjs)代入式(2),得到在理想情况下,重叠区域CB段经过运动变换后的轮廓坐标值,即得到(xnjcal,ynjcal,znjcal),然后与(xis,yis,zis)一并代入式(4)建立方程组,求得误差运动参数的最小二乘解,从而将相邻两段面形轮廓拼接起来;4)利用曲率原理和非球面方程最小二乘拟合方法,将各段拼接时重叠区域的冗余数据剔除;5)对剔除冗余数据后的全段轮廓进行综合优化处理,得到整段轮廓的整体测量结果。
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