[发明专利]基于期望最大确定统计模型参数的方法和装置在审

专利信息
申请号: 201410040503.1 申请日: 2014-01-27
公开(公告)号: CN104809098A 公开(公告)日: 2015-07-29
发明(设计)人: 曾嘉;兰亮;陈嘉 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: G06F17/18 分类号: G06F17/18
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种基于期望最大确定统计模型参数的方法和装置,其中,该方法包括:根据输入矩阵,设定K个聚类中心、参数的初始值以及后验概率矩阵μN×Kn,k)的初始值以及根据以及参数的初始值计算基于计算得到第t次循环的参数,并计算N个数据点在K个聚类中心的残差根据残差选取M个数据点的L个聚类中心;根据第t次循环计算得到的参数计算M个数据点在L个聚类中心上的后验概率根据所计算出的后验概率更新N个数据点在K个聚类中心上的后验概率矩阵并基于计算出的后验概率更新第t+1次循环的参数的值;判断第t+1次循环的参数是否收敛,在参数为收敛时,停止循环并输出参数。本发明可以降低确定统计模型的参数时的迭代成本以及时间成本。
搜索关键词: 基于 期望 最大 确定 统计 模型 参数 方法 装置
【主权项】:
一种确定统计模型参数的方法,用于基于N个数据点确定统计模型的参数,其中N为大于或等于2的整数,其特征在于,包括:接收包括N个数据点以及N个数据点的D个属性的数据集以组织成输入矩阵,其中D为大于或等于1的整数;根据所述输入矩阵,设定K个聚类中心、所述参数的初始值以及后验概率矩阵μN×Kn,k)的初始值其中,后验概率μn,k表示第n个数据点在第k个聚类中心上的后验概率,其中K为大于或等于2的整数,1≤n≤N,1≤k≤K,以及根据以及所述参数的初始值计算基于计算得到第t次循环的所述参数,并计算所述N个数据点在所述K个聚类中心的残差其中t≥1;基于所述N个数据点在所述K个聚类中心的残差从所述N个数据点中选出M个数据点,并从所述K个聚类中心选出L个聚类中心,其中1≤M≤N、1≤L≤K;根据第t次循环计算得到的所述参数计算所述M个数据点在所述L个聚类中心上的后验概率根据所计算出的所述后验概率更新所述N个数据点在所述K个聚类中心上的后验概率矩阵并基于计算出的所述后验概率更新第t+1次循环的所述参数的值;判断第t+1次循环的所述参数是否收敛,在所述参数为收敛时,停止循环并输出所述参数。
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