[发明专利]一种垂向位置测量装置有效

专利信息
申请号: 201410035494.7 申请日: 2014-01-26
公开(公告)号: CN104808447B 公开(公告)日: 2017-06-06
发明(设计)人: 王兴海;王海江 申请(专利权)人: 上海微电子装备有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G01B11/00
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 代理人: 屈蘅
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提出一种垂向位置测量装置,其特征在于,沿光路方向依次包括照明光源,用于发射照明光束;第一光学组件,用于产生平行光照射到投影狭缝;投影狭缝;第二光学组件,用于将投影狭缝成像到被测对象表面;第三光学组件,用于接收被测对象表面反射的投影狭缝成像,并对成像进行光学调制;第四光学组件,用于将投影狭缝成像在探测狭缝位置;探测狭缝;光电传感器,用于接收探测狭缝所成的像;以及信号处理单元,用于接收光电传感器信号并计算垂向位置;其中,所述投影狭缝、探测狭缝与光电传感器的数量相等并且位置对应,每个光电传感器由N个单元组成,每个单元具有独立的光电信号接收和输出功能,每个单元在测量方向上的尺寸与每个投影狭缝的尺寸相等,每个光电传感器在测量方向上的尺寸与每个探测狭缝的尺寸相等。
搜索关键词: 一种 位置 测量 装置
【主权项】:
一种垂向位置测量装置,其特征在于,沿光路方向依次包括:照明光源,用于发射照明光束;第一光学组件,用于产生平行光照射到投影狭缝;投影狭缝;第二光学组件,用于将投影狭缝成像到被测对象表面;第三光学组件,用于接收被测对象表面反射的投影狭缝成像,并对成像进行光学调制;第四光学组件,用于将投影狭缝成像在探测狭缝位置;探测狭缝;光电传感器,用于接收探测狭缝所成的像;以及信号处理单元,用于接收光电传感器信号并计算垂向位置;其中,所述投影狭缝、探测狭缝与光电传感器的数量相等并且位置对应,每个光电传感器由N个单元组成,每个单元具有独立的光电信号接收和输出功能,每个单元在测量方向上的尺寸与每个投影狭缝的尺寸相等,每个光电传感器在测量方向上的尺寸与每个探测狭缝的尺寸相等。
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