[发明专利]一种提高硬盘可靠性的方法有效
| 申请号： | 201410024967.3 | 申请日： | 2014-01-20 |
| 公开（公告）号： | CN103761057A | 公开（公告）日： | 2014-04-30 |
| 发明（设计）人： | 吴非;谢长生;周建;李想 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G06F3/06 | 分类号： | G06F3/06 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 朱仁玲 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种提高硬盘可靠性的方法，包括：获取不同采样时刻硬盘阵列的参数，计算不同采样时刻硬盘阵列的参数所对应的隶属值，包括温度、性能、运行时间以及功耗，获取硬盘温度、性能、运行时间对应的隶属值的平均值A、B、C以及功耗对应隶属值的最小值D，获取该硬盘阵列的聚合值F=aA+bB+cC+dD，其中a=0.1，b=0.2，c=0.3，d=0.4，改变磁盘阵列的大小，并重复上述步骤，以获取不同大小磁盘阵列对应的聚合值，并找到使聚合值最大对应的磁盘阵列作为最可靠的磁盘阵列。与现有的方法相比，本发明的方法可以降低百分之二十到三十的温度。可以有效地减少硬盘错误率，提高硬盘的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提高 硬盘 可靠性 方法 | ||
【主权项】：
一种提高硬盘可靠性的方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）获取不同采样时刻硬盘阵列的参数，包括温度（t0,t1,…,tn）、性能（p0,p1,…,pn）、运行时间（o0,o1,…,on）和功耗（c0,c1,…,cn），其中n表示采样点的数量；（2）计算不同采样时刻硬盘阵列的参数所对应的隶属值，包括温度（Tt0,Tt1,…,Ttn）、性能（Pp0,Pp1,…,Ppn）、运行时间（Oo0,Oo1,…,Oon）以及功耗（Cc0,Cc1,…,Ccn）；（3）获取步骤（2）获得的硬盘温度、性能、运行时间对应的隶属值的平均值A=（Tt0+Tt1+…+Ttn）/n、B=（Pt0+Pt1+…+Ptn）/n、C=（Ot0+Ot1+…+Otn）/n以及功耗对应隶属值的最小值D；（4）获取该硬盘阵列的聚合值F=aA+bB+cC+dD，其中a=0.1，b=0.2，c=0.3，d=0.4；（5）改变磁盘阵列的大小，重复上述步骤（1）至（4），以获取不同大小磁盘阵列对应的聚合值，并找到使聚合值最大对应的磁盘阵列作为最可靠的磁盘阵列。
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