[发明专利]层析X射线照相合成成像有效
| 申请号： | 201380080162.4 | 申请日： | 2013-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN105612433B | 公开（公告）日： | 2019-11-29 |
| 发明（设计）人： | 丹尼尔·阿卑宁 | 申请（专利权）人： | 模拟技术公司 |
| 主分类号： | G01V5/00 | 分类号： | G01V5/00 |
| 代理公司： | 11270 北京派特恩知识产权代理有限公司 | 代理人： | 徐川;姚开丽<国际申请>=PCT/US2 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 除其他方面外，本申请提供了一种配置为检查物体的辐射系统。所述辐射系统尤其包括辐射源、检测器阵列和物体支撑件。物体支撑件被配置为在检查期间使物体旋转并平移以便于获取表示该物体的测量体积数据。在一些实施例中，检测器阵列包括单行检测器单元，并且辐射源发射扇束辐射。在一些实施例中，辐射系统还包括图像生成器，该图像生成器配置为根据与第一射线对应的第一数据和与第二射线对应的第二数据生成物体的表面的图像，第一射线具有第一轨迹并与所述物体内的第一位置相交，第二射线具有第二轨迹并与所述物体内的第一位置相交。 | ||
| 搜索关键词： | 层析 射线 照相 合成 成像 | ||
【主权项】：
1.一种辐射系统，包括：/n辐射源，配置为将辐射发射到检查区域中，其中，物体在检查期间暴露在所述辐射下；/n检测器阵列，配置为对穿过所述检查区域的辐射进行检测；以及/n物体支撑件，配置为提起所述物体并使所述物体绕垂直于所述检测器阵列的检测表面的旋转轴旋转并使所述物体相对于所述检测器阵列沿垂直于所述旋转轴的方向平移，使得从所述检查中产生表示第一辐射射线的第一数据和表示第二辐射射线的第二数据，所述第一辐射射线具有第一轨迹并与所述物体内的第一位置相交，所述第二辐射射线具有第二轨迹并与所述物体内的所述第一位置相交；/n其中，所述检测器阵列包括一个或更多个检测器单元，并且所述检测器阵列配置为通过根据所述物体正在检查的部分与所述旋转轴间的距离调整以下至少之一来补偿采样密度的变化：所述一个或更多个检测器单元的采样率；为所述一个或更多个检测器单元的数据提供的权重。/n
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