[发明专利]层析X射线照相合成成像有效
| 申请号: | 201380080162.4 | 申请日: | 2013-10-11 |
| 公开(公告)号: | CN105612433B | 公开(公告)日: | 2019-11-29 |
| 发明(设计)人: | 丹尼尔·阿卑宁 | 申请(专利权)人: | 模拟技术公司 |
| 主分类号: | G01V5/00 | 分类号: | G01V5/00 |
| 代理公司: | 11270 北京派特恩知识产权代理有限公司 | 代理人: | 徐川;姚开丽<国际申请>=PCT/US2 |
| 地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 层析 射线 照相 合成 成像 | ||
除其他方面外,本申请提供了一种配置为检查物体的辐射系统。所述辐射系统尤其包括辐射源、检测器阵列和物体支撑件。物体支撑件被配置为在检查期间使物体旋转并平移以便于获取表示该物体的测量体积数据。在一些实施例中,检测器阵列包括单行检测器单元,并且辐射源发射扇束辐射。在一些实施例中,辐射系统还包括图像生成器,该图像生成器配置为根据与第一射线对应的第一数据和与第二射线对应的第二数据生成物体的表面的图像,第一射线具有第一轨迹并与所述物体内的第一位置相交,第二射线具有第二轨迹并与所述物体内的第一位置相交。
技术领域
本发明涉及通过层析X射线照相合成来生成一个或更多个图像,该一个或更多个图像分别描绘经过检查的物体的表面,该图像可以经过编译以生成物体的相当大容量的图像。尤其发现,将辐射系统应用于工业和/或安全应用中,其中,物体能够在检查期间被旋转以生成图像,该图像描绘物体的内部和/或识别物体内的关注项目(例如,缺陷、风险项目等)。
背景技术
目前,诸如CT系统、单光子发射计算断层成像(SPECT)系统、数字投影系统和/或行扫描系统之类的辐射系统(即辐射成像系统)例如可用于提供被检查物体的内部项目的信息或图像。该物体暴露在来自辐射源的辐射光子(例如,x射线光子、伽马射线光子等)的射线下,并且穿过该物体的辐射光子被基本上相对于物体与辐射源完全相对放置的检测器阵列检测到。测量物体对辐射光子的衰减(例如吸收、散射等)程度来确定该物体的一个或更多个属性,反过来可以利用这些属性来识别关注的项目。例如,物体的高密度项目通常比较低密度项目对辐射造成更多衰减,因而诸如骨骼或金属之类的具有较高密度的项目在被诸如肌肉或衣服之类的较低密度的项目围绕时会变得明显。类似地,通过使用这样的密度信息,例如可在源自该密度信息的图像上(例如,在像素/体素的强度与该物体部分由该像素/体素表示的密度相对应的密度图像上)将轮胎中的裂缝或异常与轮胎的其他部分区分开。
除其他之外,源自辐射检查的图像根据观察物体的角度的数量的不同可以是二维或三维的。举例而言,行扫描系统通常包括配置为发射扇束辐射的辐射源和单行检测器单元。该辐射源和该行检测器单元在检查期间通常不移动,并因此一般仅从一个角度观察物体上的各个位置。因此,通常获得该物体的二维投影图像。作为另一示例,计算断层成像系统通常包括配置为发射锥束辐射的辐射源和配置为相对于被检查物体旋转的检测器阵列。以这种方式,一般从多个角度观察物体上的各个位置以便生成该物体的三维图像。
发明内容
本申请的各方面解决了上述问题以及其他问题。根据一个方面,提供了一种辐射系统。所述辐射系统包括辐射源和检测器阵列,所述辐射源配置为将辐射发射到检查区域中,其中,物体在检查期间暴露在辐射下,所述检测器阵列配置为对穿过所述检查区域的辐射进行检测。所述辐射系统还包括物体支撑件,所述物体支撑件配置为使物体绕旋转轴旋转,使得从所述检查中产生表示第一辐射射线的第一数据和表示第二辐射射线的第二数据,所述第一辐射射线具有第一轨迹并与所述物体内的第一位置相交,所述第二辐射射线具有第二轨迹并与所述物体内的第一位置相交。
根据另一方面,提供了一种用于通过辐射检查物体的方法。所述方法包括在使所述物体暴露在辐射下的同时,使至少部分位于检查区域内的物体绕旋转轴旋转。所述方法还包括对穿过所述物体并撞击到检测器阵列的辐射进行检测来生成数据。所述数据的第一子集表示具有第一轨迹并与所述物体内的第一位置相交的第一辐射射线,并且所述数据的第二子集表示具有第二轨迹并与所述物体内的第一位置相交的第二辐射射线。
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