[发明专利]探测系统和探测外部保护层下的锈蚀的方法在审
申请号: | 201380075921.8 | 申请日: | 2013-09-23 |
公开(公告)号: | CN105247343A | 公开(公告)日: | 2016-01-13 |
发明(设计)人: | C·M·曼;J·P·邓恩 | 申请(专利权)人: | 副兆NDT有限公司 |
主分类号: | G01N17/00 | 分类号: | G01N17/00;G01N21/3581;G01N21/47;G01N21/952 |
代理公司: | 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 翟羽 |
地址: | 爱尔兰*** | 国省代码: | 爱尔兰;IE |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 不相干的毫米波、亚毫米波和太赫兹的测试讯号被用以探测被保护涂层或外层覆盖的金属基质,保护涂层或外层有如漆料或热绝缘体,其阻挡了对基质直接的检视。不相干的测试讯号可为从自然出现的被动辐射源(例如天空)和/或从主动的杂讯辐射源而来的,该些讯号在往基质的入射角度方面提供了测试讯号的讯号散射和角度上的变化。对基质的照射允许了区分样本无锈蚀和有锈蚀的部分,因为从基于金属的基质的反射率(和发射率)是高度因变于表面电阻率,其继而是因变于锈蚀情况。探测器/摄像机被设置以接收从基质的反射,而关联的控制系统辨识出不同地反射测试讯号照明的样本区域,或者对从参考值的变化作出指示。因此,该些差异代表锈蚀是否存在,甚至代表基质中或其表面上是否有其它异常存在。 | ||
搜索关键词: | 探测 系统 外部 保护层 锈蚀 方法 | ||
【主权项】:
一种方法,其用于探测被保护涂层或保护层覆盖的基质中或基质表面上的异常的存在,该方法包含:观察从基质而来的反射,该些反射从第一不相干幅射源的广角照明产生的入射电磁波引起,该些入射电磁波具有毫米或亚毫米波长或具有约三十太赫兹以下的频率;通过以下至少其一,辨识基质中的异常的存在:对比在基质中的相邻区域所观察到的反射率;以及将被测试的基质区域的所观察到的反射率和对于被测试的基质的该区域所预期的反射率参考数值作对比。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于副兆NDT有限公司,未经副兆NDT有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201380075921.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光谱显微镜装置
- 下一篇:一种电梯轿厢上、下梁、立柱钢板的加强结构