[发明专利]对在FPGA块内分组创建加速的测试仪在审
| 申请号： | 201380074042.3 | 申请日： | 2013-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN105008943A | 公开（公告）日： | 2015-10-28 |
| 发明（设计）人： | 约翰·费迪尼 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 李晓冬 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提出了一种使用自动测试设备进行测试的方法。该方法包括将用于执行自动测试的指令从系统控制器发送到测试仪处理器，其中这些指令包括用于描述符模块的参数。该方法还包括将用于实现描述符模块的可重配置电路编程到耦接至测试仪处理器的实例化FPGA块上。另外，该方法包括利用可重配置电路解释来自描述符模块的参数，其中这些参数控制对耦接至实例化FPGA块的DUT的多个测试操作的执行。此外，该方法包括根据这些参数构造至少一个分组，其中该至少一个分组中的每一个均包括对DUT执行测试操作的命令。最后，该方法包括与DUT进行握手以将该至少一个分组路由至DUT。 | ||
| 搜索关键词： | fpga 分组 创建 加速 测试仪 | ||
【主权项】：
一种使用自动测试设备(ATE)的测试方法，所述方法包括：将用于执行自动测试的指令从系统控制器发送到测试仪处理器，其中所述指令包括用于描述符模块的参数；将用于实现所述描述符模块的可重配置电路编程到耦接至所述测试仪处理器的实例化FPGA块上；利用所述可重配置电路解释来自所述描述符模块的所述参数，其中所述参数控制对耦接至所述实例化FPGA块的DUT的多个测试操作的执行；根据所述参数构造至少一个分组，其中所述至少一个分组中的每一个均包括用于对所述DUT执行测试操作的命令；以及执行与所述DUT的通信协议，以将所述至少一个分组路由至所述DUT。
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