[发明专利]对在FPGA块内分组创建加速的测试仪

权利要求书

1.一种使用自动测试设备(ATE)的测试方法，所述方法包括：

将用于执行自动测试的指令从系统控制器发送到测试仪处理器，其中所述指令包括用于描述符模块的参数；

将用于实现所述描述符模块的可重配置电路编程到耦接至所述测试仪处理器的实例化FPGA块上；

利用所述可重配置电路解释来自所述描述符模块的所述参数，其中所述参数控制对耦接至所述实例化FPGA块的DUT的多个测试操作的执行；

根据所述参数构造至少一个分组，其中所述至少一个分组中的每一个均包括用于对所述DUT执行测试操作的命令；以及

执行与所述DUT的通信协议，以将所述至少一个分组路由至所述DUT。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述命令选自包括如下项的组：读、写、读/比较。

3.根据权利要求1所述的方法，其中所述参数包括块尺寸变量，其中所述块尺寸变量可操作以定义要写入所述DUT或从所述DUT读取的块的尺寸。

4.根据权利要求1所述的方法，其中所述参数包括命令类型变量，并且其中所述命令类型变量可操作以定义对于所述至少一个分组中的每一个的命令。

5.根据权利要求1所述的方法，其中所述参数包括地址变量，并且其中所述地址变量可操作以定义所述DUT上的用于执行对所述DUT的所述多个测试操作的起始地址。

6.根据权利要求1所述的方法，其中所述参数包括总字节变量，并且其中所述总字节变量可操作以定义所述多个测试操作的累积字节尺寸。

7.根据权利要求1所述的方法，其中所述参数包括数据类型变量，其中所述数据类型变量可操作以定义要写入所述DUT的数据的模型，并且其中所述数据的模型选自包括如下项的组：伪随机、依序、随机。

8.根据权利要求7所述的方法，其中所述数据类型变量还可操作以定义要写入所述DUT的数据的源，并且其中所述源选自包括如下项的组：模型生成器电路、存储模块。

9.根据权利要求1所述的方法，其中所述可重配置电路是使用从所述测试仪处理器发送到所述实例化FPGA块的位流文件进行编程的。

10.根据权利要求1所述的方法，其中所述执行是根据用于与所述DUT通信的高速通信协议进行的，并且其中所述实例化FPGA块包括被配置为在所述高速通信协议下通信的可重配置协议引擎电路。

11.根据权利要求11所述的方法，还包括：

使用所述高速通信协议将所述至少一个分组从所述实例化FPGA块路由到所述DUT；以及

对所述DUT执行来自所述至少一个分组中的每一个的对应命令。

12.一种自动测试设备(ATE)装置，包括：

系统控制器，该系统控制器通信地耦接至测试仪处理器，其中所述系统控制器可操作以将用于执行自动测试的指令发送到所述测试仪处理器，并且其中所述指令包括用于描述符模块的参数；以及

实例化FPGA块，该实例化FPGA块耦接至所述测试仪处理器，其中所述测试仪处理器可操作以将用于实现所述描述符模块的可重配置电路编程到所述实例化FPGA块上，其中所述可重配置电路包括：

第一状态机，其可操作以解释来自所述描述符模块的所述参数，其中所述参数控制对耦接至所述实例化FPGA块的DUT的多个测试操作的执行；

第二状态机，其可操作以根据所述参数构造至少一个分组，其中所述至少一个分组中的每一个均包括对在所述DUT上执行测试操作的命令；以及

第三状态机，其可操作以执行与所述DUT的通信协议，以将所述至少一个分组路由至所述DUT。

13.根据权利要求12所述的装置，其中所述参数包括块尺寸变量，并且其中所述块尺寸变量可操作以定义要写入所述DUT或从所述DUT读取的块的尺寸。

14.根据权利要求12所述的装置，其中所述参数包括命令类型变量，并且其中所述命令类型变量可操作以定义对于所述至少一个分组中的每一个的命令。

15.根据权利要求12所述的装置，其中所述参数包括地址变量，并且其中所述地址变量可操作以定义所述DUT上的用于执行对所述DUT的所述多个测试操作的起始地址。