[发明专利]用于通过X辐射对多个基本相同组件的自动化测试和/或测量的系统和方法在审
| 申请号： | 201380073709.8 | 申请日： | 2013-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN105143863A | 公开（公告）日： | 2015-12-09 |
| 发明（设计）人： | M.韦斯滕贝克 | 申请（专利权）人： | GE传感与检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/18 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 叶晓勇;张懿 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 用于通过X辐射对多个基本相同组件(12)的自动化串行测试和/或测量的系统包括：测试装置(11)，具有支承(17)、经安装以便在支承(17)上是连续可旋转的转子(18)和设置在转子(18)上的X射线装置(24、25)；包围测试装置(11)的保护壳体(15)；装卸装置(60)，用于在X射线测试期间装卸组件(12)；以及控制/评估单元(14)，配置用于自动控制系统(10)以及通过计算机断层扫描来评估X射线信号。装卸装置(60)配置用于在装卸区(61)与测试区(78)之间周期地往复，并且包括端面元件(64)，在其上，组件(12)能够设置在端面的侧面上。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 通过 辐射 基本 相同 组件 自动化 测试 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于通过X辐射对多个基本相同组件(12)的自动化串行测试和/或测量的系统(10)，包括具有支承(17)、经安装以便在所述支承(17)上连续可旋转的转子(18)和设置在所述转子(18)上的X射线装置(24，25)的测试装置(11)、包围所述测试装置(11)的保护壳体(15)、用于在X射线测试期间装卸组件(12)的装卸装置(60)和配置用于自动控制所述系统(10)以及通过计算机断层扫描来评估所述X射线信号的控制/评估单元(14)，其特征在于所述装卸装置(60)配置用于在装载区(61)与测试区(78)之间周期地往复，并且包括垂直定向端面元件(64)，从而提供接纳和/或保持部件，所述组件(12)在其上能够设置在所述端面的侧面上。
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