[发明专利]具有电流接口的变送器电路以及具有这种变送器电路的测量设备

摘要

变送器电路用于将代表随时间改变的物理和/或化学被测变量(x)的时间变化曲线的数字测量信号(x_D)转换为依赖于上述数字测量信号的具有信号电流(i_x)的模拟测量值信号，该信号电流的电流强度代表被测变量的测量值(X)。为此，变送器电路包括具有控制输入端(I_{ctrl_in})、电流信号输出端(I1、I2)和电流输出端(I_{D_out})的电流接口。此外，变送器电路还包括微处理器，该微处理器具有针对数字测量信号(x_D)的测量信号输入端(x_{D_in})、与电流接口的电流信号输出端(I_{IST_out})连接的电流信号输入端(I_{D_in})和与电流接口的控制输入端(I_{ctrl_in})连接的控制输出端(I_{ctrl_out})。电流接口被设置成用于可以使信号电流流过电流输出端，并且在此期间不仅将电流强度调节到与瞬时施加在控制输入端(I_{ctrl_in})上的控制值(W_D,j)相当的静态电流强度水平(I_x)，而且还在电流信号输出端(I_{IST_out})上输出电流值序列(i_D)。此外，微处理器被设置成用于基于数字测量信号(X_D)生成测量值序列，并且在此基础上生成控制值序列(w_D)并在控制输出端上将其输出，以及借助控制值序列(w_D)和电流值序列(i_D)监控和/或检验电流接口。

主权项

1.一种变送器电路，所述变送器电路用于将代表随时间改变的物理和/或化学被测变量(x)的时间变化曲线的数字测量信号(xD)转换为依赖于上述数字测量信号的具有信号电流(ix)的模拟测量值信号，所述信号电流的电流强度代表被测变量的测量值(X)，所述变送器电路包括：‑电流接口(DCC)，所述电流接口具有‑‑控制输入端(Ictrl_in)、‑‑电流信号输出端(ID_out)和‑‑电流输出端(I1、I2)；以及‑微处理器(μC)，所述微处理器具有‑‑针对数字测量信号(xD)的测量信号输入端、‑‑与所述电流接口的电流信号输出端(ID_out)连接的电流信号输入端(ID_in)和‑‑与所述电流接口的控制输入端(Ictrl_in)连接的控制输出端(Ictrl_out)；‑其中，所述电流接口被设置成用于‑‑使信号电流流过电流输出端，‑‑并且在此期间，‑‑‑不仅将信号电流的电流强度调节到与瞬时施加在控制输入端(Ictrl_in)上的控制值(WD,j)相当的静态电流强度水平(Ix)，使得其中每个静态电流强度水平根据所述电流接口固有的特性曲线函数分别依赖于附属的控制值，‑‑‑而且还在电流信号输出端(ID_out)上输出电流值序列(iD)，即在不同的时间点(…,tj…,tj+n….)上获得的、瞬时代表电流强度的数字电流值(ID,j)的代表信号电流(ix)的电流强度的时间变化曲线的序列；并且‑其中，所述微处理器被设置成用于，‑‑基于测量信号输入端上的数字测量信号(xD)生成测量值序列，即在不同的时间点(ti)上获得的、分别瞬时代表被测变量的数字测量值(XD,i)的代表被测变量的时间变化曲线的序列，以及‑‑基于测量值序列生成控制值序列(wD)，即针对所述电流接口的数字控制值(WD,j)的序列，并且在控制输出端上将其输出；并且‑其中，所述微处理器(μC)被设置成用于基于控制值序列(wD)和电流值序列(iD)来监控和/或检验所述电流接口。