[发明专利]光学探询器件

摘要

一种探询器件，用于探测样品中分析物产生的发光光线，该样品中的分析物被多种激发光束激发，每一光束具有各自的光谱成分，该探询器件包括多个光源，每个光源产生激发光束；至少一个探测器，用于探测由样品产生的发光光线；以及光学组件，为每个激发光束限定从光源到样品上的共用激发位置的不同的且固定的激发光路并且为发光光线限定从样品上的激发位置到至少一个探测器的共用的发光光路，激发光路径和发光光路在样品的相同侧上，光学组件包括样品侧光学系统，其朝样品投射激发光并收集来自样品的发光光线。

主权项

一种探询器件，用于探测由样品中的分析物产生的发光光线，样品中的分析物由多个激发光束激发，各激发光束具有各自光谱成分，所述探询器件包括：多个光源，每个光源产生所述多个激发光束之一，所述激发光束投射在样品上以激发分析物；至少一个探测器，用于探测由样品产生的发光光线；以及光学组件，其为每个激发光束限定从光源到样品上共同激发位置的不同的和固定的激发光路并且为发光限定从样品激发位置到所述至少一个探测器的共用发光光路，所述激发光路径和所述发光光路在所述样品的同一侧，所述光学组件包括样品侧光学系统，其朝向样品投射激发光，并从所述样品收集发光，所述光学组件在所有的所述激发光路和所述共用的发光光路提供所述样品侧光学系统。