[发明专利]角膜基质绘测在审
| 申请号： | 201380053383.2 | 申请日： | 2013-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN104837399A | 公开（公告）日： | 2015-08-12 |
| 发明（设计）人： | 迈克尔·熙 | 申请（专利权）人： | 光视有限公司 |
| 主分类号： | A61B3/10 | 分类号： | A61B3/10;A61B3/14;A61B3/15 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 赵伟 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 给出了一种测量方法。根据本发明的一些实施例的测量方法包括：通过第一成像方法获得第一测量结果；通过第二成像方法获得第二测量结果；对第一测量结果和第二测量结果进行组合，以获得眼睛结构的结构信息和图像表示；根据结构信息来计算至少一个形状参数；以及显示眼睛结构的图像表示。 | ||
| 搜索关键词： | 角膜 基质 | ||
【主权项】：
一种测量方法，包括：通过第一成像方法获得第一测量结果；通过第二成像方法获得第二测量结果；对所述第一测量结果和所述第二测量结果进行组合，以获得眼睛结构的结构信息和图像表示；根据所述结构信息来计算至少一个形状参数；以及显示所述眼睛结构的所述图像表示。
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