[发明专利]角膜基质绘测

权利要求书

1.一种测量方法，包括：

通过第一成像方法获得第一测量结果；

通过第二成像方法获得第二测量结果；

对所述第一测量结果和所述第二测量结果进行组合，以获得眼睛结构的结构信息和图像表示；

根据所述结构信息来计算至少一个形状参数；以及

显示所述眼睛结构的所述图像表示。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述图像表示可以是所述眼睛结构的地形图或三维图。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述眼睛结构可以是眼睛的角膜上皮表面、角膜基质、或前角膜基质交界面。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述结构信息是所述眼睛结构的形状。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述第一成像方法可以是普拉西多成像、超声成像、向普鲁摄影、或光学相干断层扫描。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述第二成像方法可以是超声成像、向普鲁摄影、或光学相干断层扫描。

7.根据权利要求1所述的方法，其中，所述第一测量结果可以是角膜前表面高度图，并且所述第二测量结果可以是上皮厚度图。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，对所述第一测量结果和所述第二测量结果进行组合可以是计算所述第一测量结果和所述第二测量结果之差。

9.根据权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个形状参数可以是轴向力(径向力)、轴向曲率(径向曲率)、切向力(瞬时力)、切向曲率(瞬时曲率)、平均曲率、高度、以及相对于参考表面的高度。

10.根据权利要求1所述的方法，还包括：基于角膜上皮表面的结构信息来计算至少一个角膜扩张筛选参数。

11.根据权利要求1所述的方法，还包括：基于角膜上皮-基质交界面的结构信息来计算至少一个角膜扩张筛选参数。

12.一种测量方法，包括：

通过成像方法来获得至少一个测量结果，所述成像方法选自由以下各项构成的获得至少一个测量结果的组：光学相干断层扫描OCT、高分辨率超声、或向普鲁摄影；

对所述至少一个测量结果进行处理，以获得角膜上皮和角膜基质之间的交界面；

确定所述交界面的至少一个形状参数；

计算至少一个角膜扩张筛选参数；

生成所述交界面的地形表示或三维表示；以及

显示所述地形表示或所述三维表示。

13.一种图像处理系统，包括：

第一成像器；

第二成像器；以及

处理器，耦合到所述第一成像器和所述第二成像器，所述处理器执行指令以：

通过所述第一成像器获得第一测量结果；

通过所述第二成像器获得第二测量结果；

对所述第一测量结果和所述第二测量结果进行组合，以获得眼睛结构的结构信息和图像表示；

根据所述结构信息来计算至少一个形状参数；以及

显示所述眼睛结构的所述图像表示。

14.根据权利要求13所述的成像器，其中，所述第一成像器可以是普拉西多成像器、超声成像器、向普鲁摄影成像器、或光学相干断层扫描成像器。

15.根据权利要求13所述的成像器，其中，所述第二成像器可以是超声成像器、向普鲁摄影成像器、或光学相干断层扫描成像器。